[发明专利]一种高纯铝旋转靶材的制造方法有效
申请号: | 201711187569.3 | 申请日: | 2017-11-24 |
公开(公告)号: | CN107953084B | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 周纪平;文宏福 | 申请(专利权)人: | 韶关市欧莱高新材料有限公司;东莞市欧莱溅射靶材有限公司 |
主分类号: | B23P15/00 | 分类号: | B23P15/00 |
代理公司: | 广州骏思知识产权代理有限公司 44425 | 代理人: | 吴静芝 |
地址: | 512000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高纯 旋转 制造 方法 | ||
本发明涉及一种高纯铝旋转靶材的制造方法,包括步骤:选取高纯铝圆锭,对其进行热穿孔挤压处理,得到高纯铝管坯;然后进行矫直、退火处理;选取铝合金为靶材端头材料,对其进行表面硬质氧化处理,得到铝合金端头;将高纯铝管坯铝合金端头进行焊接,得到高纯铝旋转靶材。通过本发明制得的高纯铝旋转靶材,其显微组织内部的裂纹、气孔、疏松、夹杂、分层等缺陷大大较少,显微组织细小均匀,晶粒度尺寸不大于100微米;其通过氦质谱测漏仪测量的泄漏率数值≤5×10‑10Pa·m3/s;其长度、宽度和厚度方向的尺寸公差以及整体平面度形位公差低至0.05mm,表面粗糙度小于Ra 0.4μm,加工精度满足用户要求。
技术领域
本发明涉及TFT靶材制造领域,尤其涉及一种高纯铝旋转靶材的制造方法。
背景技术
高纯铝通常指纯度(铝含量)大于99.8%的铝,高纯铝靶材是薄膜晶体管(TFT)行业不可缺少的镀膜材料,用于玻璃基板上导电层薄膜的施镀。目前,大多数磁控溅射镀膜厂家使用的高纯铝靶材属于平面靶,它的材料利用率很低,仅有占总质量20%左右的材料得到利用;与此相对应,高纯铝旋转靶的使用率则可以达到75%左右。而且,如果以KW*h来衡量靶材的寿命,则旋转靶的寿命要比平面靶的寿命大约长5倍。近年来随着液晶屏幕尺寸的不断增大,与之对应的平面溅射高纯铝靶材也就必须随之增大其自身的长和宽。而如果采用旋转的高纯铝旋转靶材,屏幕的宽度则仅由铝管的长度决定,而屏幕的长度则不受限制。因此使用旋转靶材就可以简化镀膜工艺、提高镀膜质量以及大幅度降低磁控溅射镀膜的成本。
由于制造高纯铝靶材在技术上对于高纯材料的制备、材料加工工艺的过程控制都有较大的难度,目前国内的高纯铝旋转靶的市场基本上被日本、美国、德国、法国、韩国等外国公司控制。本发明就是针对材料加工的过程控制而提出的。
现有技术采用以下工艺参数制造内径113mm、外径157mm、长度3145mm的高纯铝管坯:挤压坯料直径251mm、长度500mm,挤压温度400℃,挤压后空冷;退火温度100~400℃、保温30min。通过该工艺可以挤压出发明者所述规格的高纯铝的管坯,但由于采用的挤压机的最大挤压力偏低,只有2500T,显著地限制了产品的生产规格以及质量的提高。首先,这导致它不能生产现在国内8.5代磁控溅射生产线需要的外径172mm、内径125mm、长度2850mm的管坯;其次,挤压力偏低导致材料的挤压比偏小,管坯的挤压变形不易均匀,管坯的晶粒尺寸不易被细化和均匀一致化;第三,挤压温度偏高,挤压后又是自然空冷,不易控制材料挤压变形后再结晶过程中晶粒的长大。因此,按此工艺只能生产晶粒度不小于200微米的高纯铝旋转靶坯,而现在国内的8.5代线的用户普遍要求管坯的晶粒尺寸不大于100微米,并且晶粒尺寸分布在整体上要均匀一致;此外,该工艺产品的两端采用的是高纯铝材料,强度和硬度太低和太软,容易在使用中发生变形和磨损;最后,该工艺未涉及靶材生产后续过程中必须的探伤、测漏、真空无尘包装等处理工艺过程,不利于用户使用。
发明内容
基于此,本发明的目的在于,提供一种高纯铝旋转靶材的制造方法,用以生产出高品质的TFT用高纯铝旋转靶材,其显微组织结构内部缺陷少,晶粒细化均匀,表面粗糙度低。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的:一种高纯铝旋转靶材的制造方法,包括以下步骤:
S1:选取高纯铝圆锭为靶材原料,对其进行热穿孔挤压处理,得到高纯铝管坯;
S2:对步骤S1所得高纯铝管坯进行矫直处理;
S3:对步骤S2矫直处理后的高纯铝管坯进行退火处理;
S4:选取铝合金为靶材端头材料,对其进行表面硬质氧化处理,得到铝合金端头;
S5:将步骤S3退火处理后的高纯铝管坯与步骤S4所得铝合金端头进行焊接,得到高纯铝旋转靶材。
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