[发明专利]阴影校正装置、电子设备和阴影校正方法

说明书

本发明涉及阴影校正装置、电子设备和阴影校正方法。阴影校正装置具备：基准取得部，取得测色基准物的拍摄图像的基准像素值W；对象像素值取得部，取得测量对象的拍摄图像的像素值S；移位值取得部，取得基于基准像素值W的移位值k2；查找表，存储有对应Wk2的变量G₂(＝2^k1/Wk2)；以及算出部，从查找表中读出与基准像素值W及移位值k2对应的变量G₂，并根据下述式(1)计算测量对象的拍摄图像的各像素的阴影校正值R_dec：R_dec＝(F·G₂)＞＞(k1+k2)+B…(1)其中，F＝S·(A‑B)+{W＞＞1}A、B及k1是整数常数。

技术领域

本发明涉及阴影校正装置、电子设备和阴影校正方法。

背景技术

一直以来，已知一种进行阴影校正的装置，其使用拍摄对象物而得的对象物图像和拍摄白色基板等基准物而得的基准图像，抑制对象物图像中的照明不均、透镜导致的周边光减少等的影响(例如参照专利文献1)。

在专利文献1所记载的以往的装置中，当将对象物图像中的各像素的像素值设为S'，将基准图像的各像素的像素值设为W'，将暗值设为D时，阴影校正值根据-R_float＝(S'-D)/(W'-D)来计算。这时，在使用所算出的值作为图像数据的情况等下，根据以下所示的整数运算计算阴影校正值。需要说明的是，“Xy”是表示将x向右移位y位的移位算子，A、B是整数常数。

F＝(S′-D)·(A-B)+{(W′-D)＞＞1}···(2)

然而，在计算机的运算处理中执行除法运算处理需要的处理成本高，对于诸如图像这样的集合了大量像素值的数据执行上述那样的除法运算处理需要较长的处理时间。因此，一直以来，为了减轻处理负荷，将式(1)和式(2)换为下述式(3)和式(4)进行阴影校正的运算。

R_dec＝(F·G)＞＞k1+B···(3)

(k1是整数常数)

在这种情况下，通过将变量G预先存储在LUT(查找表)中，可以通过乘法运算和位移位的组合来实现除法运算，减轻处理负荷。

专利文献1：日本特开平5-167845号公报

然而，在使用上述式(3)和式(4)的运算中，由于W′-D的值取各种值，因此，存在LUT的数据大小增加的问题。

发明内容

本发明的目的在于，提供能够减少用于阴影校正的LUT的数据大小的阴影校正(シェーディング補正)装置、电子设备和阴影校正方法。

本发明涉及的一方面的阴影校正装置中，其特征在于，具备：基准取得部，取得测色基准物的拍摄图像中的像素值、即基准像素值W；对象像素值取得部，取得测量对象的拍摄图像中的像素值S；移位值取得部，取得基于所述基准像素值W的移位值k2；存储部，存储查找表，所述查找表中存储有将整数常数设为k1时由G₂＝2^k1/Wk2表示的、对应于通过将所述基准像素值W移位所述移位值k2而得到的值Wk2的变量G₂；以及算出部，从所述查找表中读出与由所述基准取得部所取得的所述基准像素值W及由所述移位值取得部所取得的所述移位值k2对应的所述变量G₂，并根据下述式(5)计算所述测量对象的拍摄图像的各像素的阴影校正值R_dec。

R_dec＝(F·G₂)＞＞(k1+k2)+B···(5)

其中，F＝S·(A-B)+{W＞＞1}、A、B及k1是整数常数