[发明专利]一种PLC波分复用技术光学测试系统及其方法

权利要求书

1.一种PLC波分复用技术光学测试系统，其特征在于：包括C波段光源模块、1×N分光器、滤波器控制电路、可调光滤波器模块、光功率探测器、偏振控制器、耦合器和计算机控制系统，C波段光源模块的输出端与可调光滤波器模块的输入端连接，可调光滤波器模块的输出端与偏振控制器的输入端连接，偏振控制器的输出端与耦合器的输入端连接，耦合器的第一输出端与1×N分光器的公共端连接、第二输出端与光功率探测器连接，1×N分光器的输出端与待测试模块的输入端连接，待测试模块的输出端与光功率探测器连接；可调光滤波器模块连接滤波器控制电路，滤波器控制电路、偏振控制器和光功率探测器均与计算机控制系统连接。

2.如权利要求1所述的一种PLC波分复用技术光学测试系统，其特征在于:所述C波段光源模块的光源为具有宽波段输出的宽带光源；所述C波段光源模块的型号为ASE-C。

3.如权利要求1所述的一种PLC波分复用技术光学测试系统，其特征在于:所述可调滤波器为具有调制宽带光源为任意单波长或窄带输出波长的调制光学滤波器件，其型号为OTF-10。

4.如权利要求1所述的一种PLC波分复用技术光学测试系统，其特征在于:所述光功率探测器包括数个光探测器或者阵列集成式光学探测器。

5.如权利要求4所述的一种PLC波分复用技术光学测试系统，其特征在于：所述光功率探测器为具有N个通道的阵列探测器，其型号为PD-ARRAY40。

6.如权利要求1所述的一种PLC波分复用技术光学测试系统，其特征在于:所述耦合器为2X2均分耦合器，其型号为COUPLER2-2。

7.如权利要求1所述的一种PLC波分复用技术光学测试系统，其特征在于:所述计算机控制系统为电脑或工控机。

8.一种PLC波分复用技术光学测试方法，其特征在于：包括如下步骤：

步骤1：建立所述一种PLC波分复用技术光学测试系统；

步骤2：系统波长相关插入损耗校准：计算机控制系统控制可调光滤波器模块输出波长为测试所需的光源，将1×N分光器的输出端口与待测试模块连接，计算机控制系统采集并计算光功率探测器的光功率值P2i，其中i为对应分光器的第i个通道的光功率接收端口的光功率值；

步骤3：对待测试模块的光谱特性进行采集：计算机控制系统控制可调光滤波器模块按照预设波长，以最小波长间隔(一般为3-5pm)匀速改变可调光滤波器模块的输出波长，计算机控制系统实时同步采集光功率探测器的光功率最大值P2_maxi和最小值P2_mini，其中i为对应待测试模块的第i个通道的光功率接收端口的光功率值；

步骤4：对待测试模块的光学指标进行分析测试，所述光学指标包括插入损耗、偏振相关损耗、带宽和隔离度，记录步骤2中待测试模块各通道在不同波长下的光功率最大值P2_maxi和最小值P2_mini，计算机控制系统根据光功率最大值P2_maxi和最小值P2_mini分析并计算待测试模块的插入损耗和偏振相关损耗，其计算公式如下：

平均插入损耗IL：IL＝(P2_maxi+P2_mini)/2-P2i；

偏正相关损耗PDL：PDL＝P2_maxi-P2_mini；

计算机控制系统根据平均插入损耗IL和偏正相关损耗PDL分析待测试模块的带宽和隔离度，并以图表的形式展示待测试模块的光学指标。