[发明专利]一种图像坏点检测方法、装置和图像处理芯片有效
申请号: | 201711174886.1 | 申请日: | 2017-11-22 |
公开(公告)号: | CN107948634B | 公开(公告)日: | 2021-11-05 |
发明(设计)人: | 袁扬智;刘俊秀;韦毅;石岭 | 申请(专利权)人: | 深圳开阳电子股份有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00;G06T7/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区高*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 图像 检测 方法 装置 处理 芯片 | ||
本发明公开一种图像坏点检测方法、装置和图像处理芯片,该方法包括步骤:接收图像原始数据,将图像原始数据的每一像素值减去预设的偏移电平,得到该像素点偏移校正后的偏移校正值;根据M帧图像内全像素点的所述偏移校正值的累加值,得到第一误差值;根据M帧图像内单一像素点的偏移校正值的累加值,得到第二误差值;根据所述偏移校正值与所述第二误差值的均值的差值的绝对值,得到第一绝对误差值,通过该第一绝对误差值是否超出预设的第一阈值,判断该像素点是否为坏点。本发明通过计算多重帧内和帧间的像素误差,使最终得到的误差绝对值准确地反映了像素点是否损坏,以及损坏的程度。
技术领域
本发明涉及图像处理技术领域,尤其涉及一种图像坏点检测方法、装置和图像处理芯片。
背景技术
随着图像处理技术的发展,数字视频图像的应用日益普遍,在摄像机、手机等移动设备和车载以及监控等领域中,对视频图像的质量要求也越来越高。由于半导体的制造工艺和材料的差异以及在使用过程中的损坏,图像传感器都会存在一些坏像素点,为了使最终的成像满足人们的视觉需求,必须对这些坏像素点进行检测和校正。
现有的坏像素点检测技术,主要应用邻域判断法,即在一帧图像内,根据该像素点和其周围邻域内的像素点判断该点是否为坏像素点,若该点与周围邻域内像素点的差距很大,则认为该点为坏像素点。校正该像素点时,一般通过对邻域内像素点进行加权平均或按一定的方式计算得到该点校正后的像素值。而当出现坏像素块或加权校正计算不准确时,都可能出现坏点检测和校正的不准确。
另一些坏点检测技术虽然也考虑了前后帧图像内,运动图像对坏像素的影响来判断该点是否是坏像素点,也是通过判断坏像素点在前后帧的变化误差来对坏像素进行判断。但是由于视频图像场景(例如亮度、色度等)是实时改变的,当采用运动的实时图像来进行判断坏像素点时,对一些制造工艺中产生的像素点线性漂移或使用中镜头被部分灰尘遮挡所产生的偏亮或偏暗等坏像素点是无法进行准确判断的。
因此,有必要设计一种全新的图像坏点检测方法,解决上述问题,使图像坏点检测更准确。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种图像坏点检测方法、装置和图像处理芯片,其可更准确地反映像素点是否损坏,以及损坏的程度。
为解决本发明的技术问题,本发明公开一种图像坏点检测方法,包括以下步骤:
接收图像原始数据,将图像原始数据的每一像素点的像素值减去预设的偏移电平,得到该像素点偏移校正后的偏移校正值;
根据M帧图像内单一像素点的偏移校正值的累加值,得到第二误差值;M为自然数;
根据所述偏移校正值与所述第二误差值的均值的差值的绝对值,得到第一绝对误差值,通过判断该第一绝对误差值是否超出预设的第一阈值,判断该像素点是否为坏点。
为解决本发明的技术问题,本发明还公开一种图像坏点检测装置,包括时序控制单元、图像校正单元,一维误差计算单元、二维误差计算单元、多帧绝对误差计算单元、存储器控制单元和存储器;
所述时序控制单元根据接收到的行场同步信号和坏点检测信号,控制所述一维误差计算单元、二维误差计算单元、多帧绝对误差计算单元和存储器控制单元工作;
所述图像校正单元用于将接收到的图像原始数据的每一像素点的像素值减去预设的偏移电平,得到该像素点偏移校正后的偏移校正值;
所述二维误差计算单元用于将M帧图像内单一像素点的所述偏移校正值进行累加,得到第二误差值;M为自然数;
所述存储器控制单元用于根据所述时序控制单元的控制对所述存储器进行读写控制操作;
所述多帧绝对误差计算单元用于将所述偏移校正值与所述第二误差值的均值的差值取绝对值,得到第一绝对误差值,输出所述第一绝对误差值;
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