[发明专利]一种用于多个TDI CCD探测器视轴对中的调试方法及系统

权利要求书

1.一种用于多个TDI CCD探测器视轴对中的调试系统，其特征在于，包括光电综合测试系统(1)、成像系统、第一经纬仪(3)、第二经纬仪(4)、图像显示器；

所述的光电综合测试系统由平行光管、靶标、光源组成；其能够选择不同尺寸的靶标，以及选择相对应不同谱段探测器的光源；光源经不同尺寸的靶标后，通过平行光管出射平行光，形成不同尺寸的靶标像；能够针对不同像元尺寸的TDI CCD探测器选择不同尺寸的靶标；

所述的第一经纬仪、第二经纬仪用于使成像系统与光电综合测试系统的光轴对准；

所述的成像系统包括TDI CCD探测器、与探测器匹配的光学系统；光学系统、TDI CCD探测器为待调试对象，TDI CCD探测器为多个；

还包括图像采集系统，图像采集系统用于实时采集TDI CCD探测器的图像输出给图像显示器进行显示；

还包括待调试成像系统设备(2)，所述的待调试成像系统装置设备(2)包括光学气浮平台(5)、二维转台工装(6)、与成像系统光轴平行的平面反射镜(8)、与成像系统光轴垂直的平面反射镜(9)；所述的二维转台工装使成像系统中的TDI CCD探测器进行俯仰、方位二维方向的转动；成像系统安装于二维转台工装上；二维转台工装(6)位于气浮光学平台(5)之上。

2.根据权利要求1所述的一种用于多个TDI CCD探测器视轴对中的调试系统，其特征在于，所述的光电综合测试系统还包括操控计算机；通过操控计算机选择不同尺寸的靶标，设置不同谱段的TDI CCD探测器相应的光源。

3.一种用于多个TDI CCD探测器视轴对中的调试方法，其特征在于，该方法包括下述步骤：

步骤一、待调焦的多个TDI CCD探测器的成像系统与光电综合测试系统的光轴对准；

步骤二、实时采集成像系统的成像图像，实时显示面阵模式下TDI CCD探测器的图像；

步骤三、设置光电综合测试系统，针对不同谱段的TDI CCD探测器设置相应的光源，针对不同像元尺寸的TDI CCD探测器设置相应的星点靶标；

步骤四、对待调焦的TDI CCD探测器进行焦面调试，具体内容如下：

S41将多个探测器中的任意一个待TDI CCD探测器做为待调试探测器，将其设置为面阵模式；

S42打开光源、选取相应星点靶标，观察采集到的图像，从图像确定中间条纹代表的像元所在探测器器件中的位置坐标；

S43根据图像位置，将TDI CCD探测器器件沿光轴垂直方向即探测器的线列方向进行移动调试，即将中间条纹调节到某个确定的位置，该位置对应到TDI CCD探测器器件线列像元数的中间位置；

S44按上述S41～S43步骤，将余下各TDI CCD探测器调试至使：各个TDI CCD探测器的对应图像中的中间条纹均调至到某个确定的位置，该位置对应到各中间条纹图像对应的TDICCD探测器器件线列像元数的中间位置；

所述的光电综合测试系统用于针对不同谱段的TDI CCD探测器设置相应的光源，针对不同像元尺寸的TDI CCD探测器设置相应的星点靶标；所述的成像系统包括TDI CCD探测器与探测器匹配的光学系统。

4.根据权利要求3所述的一种用于多个TDI CCD探测器视轴对中的调试方法，其特征在于，步骤一中的成像系统与光电综合测试系统的光轴对准具体步骤如下：

S11：成像系统与光电综合测试系统进行粗对准，将成像系统的入光口对准光电综合测试系统的出光口；

S12：将第一台经纬仪置于光电综合测试系统1和成像系统中间；第一经纬仪先瞄准光电综合测试系统中平行光管；第一经纬仪水平值清零，然后第一经纬仪水平旋转后对准与成像系统光轴垂直的平面反射镜(9)；将光电综合测试系统和成像系统二者的光轴调水平；

S13：将第二台经纬仪瞄准成像系统俯仰轴的基准镜，将成像系统俯仰轴系调水平；

S14：重复上述两个步骤，待光电综合测试系统和成像系统的光轴对准后，将第一经纬仪、第二经纬仪撤去。

5.根据权利要求3所述的一种用于多个TDI CCD探测器视轴对中的调试方法，其特征在于，步骤三的具体内容为：设置光电综合测试系统，选取的光电综合测试系统的星点靶标像覆盖TDI CCD探测器的级数。