[发明专利]一种基于有限元仿真优化的结果提取与可视化修改方法

说明书

本发明公开一种基于有限元仿真优化的结果提取与可视化修改方法，属于有限元仿真优化技术领域。它包括以下步骤：步骤一，根据初值优化求解得到最优解后，返回手动设计器提取优化结果；步骤二，提取完后，以可编辑的平面布局图显示出优化结果；步骤三，与优化结果热分布云图对比，确认提取结果是否准确；步骤四，对优化结果进行人工手动修改后，再进行单步仿真观察计算结果。本发明可自动将优化结果中的规律化参数转为每颗芯片的坐标与角度参数进行修改；可直接配合其它工具仿真计算修改后的布局；可将计算机优化与人工手动调整以循环方式结合起来。

技术领域

本发明属于有限元仿真优化技术领域，尤其是一种基于有限元仿真优化的结果提取与可视化修改方法。

背景技术

为了提高优化效率，节约计算资源，大量芯片优化时通常采用规律性参数来控制，因此对于有些特殊位置需要空置出来，或者部分芯片排列方式要调整时，自动优化的结果很难满足要求，只能修改优化结果文件，但是效率不高，而且无法直观看到修改后的结果是否满足要求。

发明内容

为解决现有技术存在自动优化结果无法修改，且无法直观看到修改后结果的缺陷，本发明提供一种基于有限元仿真优化的结果提取与可视化修改方法。

为实现上述目的，本发明采用下述技术方案：

一种基于有限元仿真优化的结果提取与可视化修改方法，包括以下步骤：

步骤一，根据初值优化求解得到最优解后，返回手动设计器提取优化结果；

步骤二，提取完后，以可编辑的平面布局图显示出优化结果；

步骤三，与优化结果热分布云图对比，确认提取结果是否准确；

步骤四，对优化结果进行人工手动修改后，再进行单步仿真观察计算结果。

进一步地，步骤一中通过读取结果中优化后的信息包括起角，间角和半径，再通过设定数目和排列方式完成提取。

进一步地，步骤二中将优化后的芯片排列和尺寸转成可视化的可编辑二维图形。

有益效果：

1.可自动将优化结果中的规律化参数转为每颗芯片的坐标与角度参数进行修改。

2.可直接配合其它工具仿真计算修改后的布局。

3.可将计算机优化与人工手动调整以循环方式结合起来。

附图说明

图1为本发明的功能流程示意图；

图2为本发明实施例1的可视化芯片排布示意图；

图3为本发明实施例1的优化仿真结果热分布云图；

图4为本发明实施例1修改后的芯片排布示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

本发明一种基于有限元仿真优化的结果提取与可视化修改方法，如图1所示，根据初值优化求解得到最优解后，可以返回手动设计器提取结果，并以平面布局图显示出结果，然后对结果的排列人为增减旋转等修改，然后再进行单步仿真观察计算结果。

实施例1

步骤一，自动优化计算结束后，打开芯片布局器(手动)，并点开结果面板；选择优化结果文件，后缀名为OPT；读取成功后，提示窗会提醒读取成功，在右下角窗体中会显示优化结果具体内容；通过点击“上一圈”、“下一圈”来读取结果中优化后的起角，间角，半径等信息，再通过设定数目和排列方式即可完成提取工作，比如圈号：2，数目：18，起角：1.16788952，间角：0.34701958，半径：10.9144657。