[发明专利]继电器寿命计数测量方法

说明书

一种继电器寿命计数测量方法，能够同时对不同继电器中的多个继电器开关组的动作次数分别进行计数得到动作计数值，并依据动作计数值与通断次数之间的误差大小、或者是计数过程与继电器开关组的动作之间不同步次数的多少判断继电器开关组的动作计数值是否合格来确定继电器是否失效；采用RS触发器自动滤除继电器开关组动作所产生的电脉冲中的边沿抖动干扰，保证了继电器寿命检测的精确性；采用在控制器单元外部设置多个计数器分别对继电器开关组的动作次数进行计数的方式，同时检测继电器寿命的继电器开关组数量不受控制器单元内部计数器数量的限制。

技术领域

本发明涉及测试方法与装置领域，尤其是一种继电器寿命计数测量方法。

背景技术

继电器寿命一般在几万次至数十万次。模拟继电器的使用条件，通过控制继电器动作使其开关通断产生电脉冲，然后对电脉冲进行计数，可以测试继电器寿命。继电器动作所产生的电脉冲含有边沿抖动，直接对未处理的脉冲进行计数，会产生极大的误差。使用MCU软件延时方式去除抖动脉冲的影响，当MCU需要同时对多个继电器进行寿命测试时，MCU的软件延时方式会使MCU力不从心。

发明内容

为了解决现有继电器寿命测量方面所存在的问题，本发明提供了一种继电器寿命计数测量方法，包括以下步骤：

步骤1，初始化，包括将L个继电器开关组的检测标志均置为在检状态，寿命计数器清0，发出清0信号使L个动作计数值全部清0；

步骤2，控制L个继电器开关组动作一次，同时对L个继电器开关组的动作次数分别进行计数得到L个动作计数值；寿命计数器进行加1计数；

步骤3，读取当次L个动作计数值；

步骤4，逐个对检测标志为在检状态的继电器开关组是否失效进行判断；将本次被判断为失效继电器开关组的检测标志置为停检状态，同时将当前寿命计数器的计数值作为该次被判断为失效继电器开关组的寿命值；

步骤5，L个继电器开关组的检测标志中仍有在检状态者，返回步骤2，否则停止检测。

所述对检测标志为在检状态的继电器开关组是否失效进行判断，方法是，待判断继电器开关组被控制通断的次数与其动作计数值之间的误差小于E，则该继电器开关组未失效，否则失效；所述E为大于等于1且小于等于M/2的整数，所述M为动作计数值的最大计数值。所述待判断继电器被控制通断的次数与其动作计数值之间的误差小于E的判断方法是，将当前寿命计数器的计数值对M取模，得到余数Q；读取的当次待判断继电器动作计数值为K，则当|K-Q|<E，或者是|K-(Q-M)|<E，或者是|K-(Q+M)|<E三者之一得到满足时，待判断继电器被控制通断的次数与其动作计数值之间的误差小于E。

对检测标志为在检状态的继电器开关组是否失效进行判断，方法或者是，待判断继电器开关组的当次动作计数值与前次动作计数值不是增1关系时，则该继电器开关组失效，否则未失效；方法或者是，待判断继电器开关组连续S次的当次动作计数值与前次动作计数值不是增1关系时，则该继电器开关组失效，否则未失效；所述S为大于等于2的整数。

对检测标志为在检状态的继电器开关组是否失效进行判断，方法还或者是，待判断继电器开关组累计W次的当次动作计数值与前次动作计数值不是增1关系时，则该继电器开关组失效，否则未失效；所述W为大于等于2的整数。