[发明专利]一种双频电磁超声检测系统

权利要求书

1.利用双频电磁超声检测系统进行缺陷检测的方法，其特征在于：所述的双频电磁超声检测系统，包括数字信号发生器(1)、功率放大器(2)、双工器(3)、磁铁(4)、线圈(5)、金属试样(6)、前置放大器(7)、高通滤波器(8)、低通滤波器(9)和信号处理器(10)，所述的磁铁(4)和线圈(5)构成电磁超声换能器，所述的电磁超声换能器置于金属试样(6)的上方，所述的数字信号发生器(1)交替产生两种不同频率的数字信号，其中一种频率较高，另一种频率较低，输入到功率放大器(2)中进行功率放大，经过双工器(3)，驱动线圈(5)，线圈(5)的作用是激励超声波和接收超声回波信号，超声回波信号经过双工器(3)输入到前置放大器(7)中，经前置放大器(7)放大以后分两路分别输入到一个低通滤波器(9)和一个高通滤波器(8)中，滤波之后信号输入到信号处理器(10)中，通过两种不同频率的超声回波信号进行缺陷信息判断，所述的缺陷信息判断的具体步骤为：

在标定阶段，先使用不含缺陷的标定试样对系统进行标定，标定出电磁超声换能器到试样的提离距离g与低频底面回波信号幅值R_l的对应关系：g＝f₁(R_l)；然后使用包含缺陷的标定试样对系统进行再次标定，标定出缺陷尺寸d与提离距离g、高频缺陷回波信号幅值的对应关系：

在检测阶段，根据接收到的低频信号幅值R_l，通过g＝f₁(R_l)得到提离距离g，然后根据提离距离g和高频缺陷回波信号幅值通过得到缺陷尺寸d。

2.根据权利要求1所述的利用双频电磁超声检测系统进行缺陷检测的方法，其特征在于：频率较高的数字信号的频率所对应的超声波波长与缺陷尺寸相当，频率较低的数字信号的频率小于频率较高的数字信号的频率的1/3。

3.根据权利要求1所述的利用双频电磁超声检测系统进行缺陷检测的方法，其特征在于：所述的高通滤波器(8)的截止频率大于数字信号发生器(1)产生的低频信号频率，所述的低通滤波器(9)的截止频率小于数字信号发生器(1)产生的高频信号频率。