[发明专利]用于电致发光显示器的电流补偿方法与元件

说明书

本公开涉及一种用于电致发光(EL)显示器的电流补偿方法。该电流补偿方法包含测量一像素单元的一光强度，若所测量的光强度超过一预定阈值则将一像素单元辨识为需要补偿，判定一补偿电流的大小，以及提供一影像数据至该辨识的像素单元，其中该影像数据是对应于该补偿电流的大小。

技术领域

本公开涉及一种用于电致发光显示器的电流补偿方法与元件

背景技术

主动阵列有机发光二极管(active matrix organic light emitting diode，AMOLED)显示器中，每一像素单元包含储存数据的电容器，因而像素单元可维持在照明状态。此驱动机制适合发展大尺寸、高分辨率显示器。因此，AMOLED在先进显示器(例如可挠式显示器)的研究与发展中变得越来越重要。对于OLED元件，其发光决定于流经OLED元件的电流强度，而OLED元件的电流强度决定于OLED元件的阈值电压Vth。对于包括多个OLED元件的显示器，不同的OLED元件之间的电流强度可因Vth的差异而不同，造成跨越像素单元的不均匀发光。阈值差异可能是由制造参数或元件老化而造成。

发明内容

本公开的实施例提供一种电致发光(EL)显示器的电流补偿方法。该电流补偿方法包含测量一像素单元的一光强度；若该光强度超过一预定阈值，则将该像素单元辨识为需要补偿；判定一补偿电流的大小；以及提供一影像数据至该像素单元，其中该影像数据是对应于该补偿电流的大小。

在一实施例中，该电流补偿方法另包含在测量该像素单元的该光强度之前，提供一预定灰阶的一影像数据至欲测量的该像素单元。

在另一实施例中，该像素单元的辨识另包括比较所测量的该光强度与该预定灰阶。

在另一实施例中，判定一补偿电流的大小另包含计算所测量的该光强度与该预定灰阶之间的差；以及将该差转换为该补偿电流的大小。

在另一实施例中，该电流补偿方法另包含判定需要补偿的该像素单元的位置。

在另一实施例中，该像素单元是由一栅极驱动器集成电路(integrated circuit，IC)与一源极驱动器IC驱动，该电流补偿方法另包含将该像素单元的该位置的信息提供至该栅极驱动器IC；以及将该补偿电流的大小的信息提供至该源极驱动器IC。

本公开的一些实施例提供一种电流补偿方法。该电流补偿方法包含获得一移动装置的一显示器的实时云纹(mura)影像数据，将该实时云纹影像数据储存于该移动装置的一存储器中；以及基于该实时云纹影像数据而判定需要补偿的像素。

在一实施例中，获得一移动装置的一显示器的实时云纹(mura)影像数据包含拍摄该移动装置的该显示器显示的一影像的一照片。

在另一实施例中，该电流补偿方法另包含将该存储器中的一原始云纹影像数据更新为该实时云纹影像数据。

在另一实施例中，该原始云纹影像数据是于制造该移动装置时储存于该存储器中。

在另一实施例中，该原始云纹影像数据包含先前储存的云纹影像数据。

在另一实施例中，该存储器包含一快闪IC。

本公开的一些实施例提供一种电致发光(EL)显示器。该显示器包含一基板、位于该基板上方的一EL元件层、以及位于该基板上方的一光学感测层。该EL元件层包含一些EL元件。该光学感测层包含配置于一第一方向的多个第一感测器以及配置于一第二方向的多个第二感测器，所述第一感测器与所述第二感测器于交叉点彼此交叉。该光学感测层是经配置以通过检测每一个交叉点的来自一参考点的阻抗(impedance)而辨识该EL元件层的待补偿的一区域。

在一实施例中，该基板包含低温多晶硅(low temperature polysilicon，LTPS)基板与铟镓锌氧化物(indium gallium zinc oxide，IGZO)基板其中之一。