[发明专利]一种BLE设备的板级射频性能测试方法

说明书

本发明公开了一种BLE设备的板级射频性能测试方法，该方法使系统上位机通过HCI接口对BLE测试架和待测BLE设备进行控制；将待测BLE设备进入DTM模式；然后针对BLE设备发射功率分别在低、中、高三个频点上进行测量，获得相应的发射功率，并判断待测BLE设备发射功率是否符合标准；同样判断待测BLE设备接收误码率是否符合标准；将测试数据存入数据库。本发明能够根据蓝牙协议标准V4.2规定的射频测试项，对BLE设备的RF性能进行自动化测试，更好地评估BLE设备射频收发机的性能，并保存相关测试数据。

技术领域

本发明属于射频设备的测试技术领域，特别涉及BLE设备的板级射频性能测试方法。

背景技术

随着物联网的发展，低功耗BLE作为一种近距离无线通信解决方案，越来越受到市场的重视。低功耗BLE在无线配件或无线产品的新型细分市场，包括个人健康和保健设备、广告、室内定位和邻近标签等领域的应用已成如火如荼的趋势。

由于低功耗BLE技术是一种无线技术，因此在其生产测试过程中存在着测试时间长，测试不方便等问题。特别对于芯片射频性能的评估，需要使用价格昂贵复杂的无线通信测试仪进行测试，测试成本高、时间长。

专利申请201520190691.6公开了一种蓝牙射频电路的测试装置，其包含：处理设备及测试仪表；测试仪表分别与处理设备及至少一个待测的蓝牙射频电路相连接，并将采集到的蓝牙射频电路的射频测试数据发送给处理设备；处理设备与所述至少一个待测的蓝牙射频电路相连接，并通过与所述蓝牙射频电路的连接，获取所述蓝牙射频电路的通讯测试数据。本实用新型实施方式中，测试仪表将采集到的射频测试数据发送给处理设备，供处理设备对蓝牙射频电路的射频性能进行解析；同时，将待测的蓝牙射频电路与处理设备相连接，使得处理设备可直接对蓝牙射频电路的通讯功能进行测试。然而，该测试装置并不适用于BLE设备，如何降低BLE蓝牙芯片射频性能的测试成本，提高测试效率，成为了一个日益紧迫的问题。

发明内容

基于此，因此本发明的首要目地是提供一种BLE设备的板级射频性能测试方法，该方法能够根据Bluetooth Core Specification蓝牙协议标准V4.2规定的射频测试项，对BLE设备的RF性能进行自动化测试，更好地评估BLE设备射频收发机的性能，并保存相关测试数据。

为实现上述目的，本发明的技术方案为：

一种BLE设备的板级射频性能测试方法，测试所用系统包括BLE测试架和待测BLE设备，BLE测试架和待测BLE设备放置在屏蔽盒中，其特征在于该方法包括如下步骤：

101、系统上位机通过HCI接口对BLE测试架和待测BLE设备进行控制；

102、待测BLE设备进入DTM模式；

103、针对BLE设备发射功率分别在低、中、高三个频点上进行测量，分别是2402MHz，2440MHz和2480MHz，获得相应的发射功率；

进一步包括有：系统上位机控制待测BLE设备依次在2402MHz，2440MHz和2480MHz三个信道上持续输出信号，信号不跳频，关闭白噪声，选择PatternType为PRBS9类型；

系统上位机控制BLE测试架在2402MHz，2440MHz和2480MHz三个信道上接收对应信道频率的蓝牙信号，计算出相应的发射功率。

104、系统上位机根据蓝牙协议标准V4.2判断待测BLE设备发射功率是否符合标准；

105、BLE接收误码率分别在低、中、高三个频点上进行测量，分别是2402MHz，2440MHz和2480MHz，获得相应的接收误码率；