[发明专利]无源UHFRFID标签读写器协议性能测试装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及射频标签技术领域，尤其涉及一种无源UHF RFID标签读写器协议性能测试装置及方法。

背景技术

射频识别技术是二十世纪九十年代兴起的一种无线的、非接触方式的自动识别技术，是近几年发展起来的前沿科技项目。该技术主要是利用射频信号通过空间耦合实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的。射频识别技术的显著优点在于非接触性，因此完成识别工作时无需人工干预，能够实现识别自动化且不易损坏；可识别高速运动的射频标签，也可同时识别多个射频标签，操作快捷方便；射频标签不怕油渍、灰尘污染等恶劣环境，且可以穿透非金属物体进行识别，抗干扰能力强。

现有的射频标签技术中，无源UHF RFID(特高频射频标签)被广泛的应用于物联网中，其中标签读写器是配合无源UHF RFID工作的主要设备，然而，由于目前缺少对无源UHF RFID标签读写器的测试设备和测试方法，使得各种工作指标不统一的无源UHF RFID标签读写器流入终端领域，造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定。

发明内容

针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种无源UHF RFID标签读写器协议性能测试装置及方法。

为实现上述目的，本发明采用了如下的技术方案：

一种无源UHF RFID标签读写器协议性能测试装置，其中，包括一移动平台，一RFID标签，所述RFID标签固定于所述移动平台的移动部上，以及一待测试RFID标签读写器，所述待测试RFID标签读写器与所述移动部具有一预定距离，所述RFID标签的天线与所述待测试RFID标签读写器的天线之间的方向为最佳耦合方向。

本发明的另一方面，所述移动部与所述待测试RFID标签读写器之间的初始距离为0.5米。

本发明的另一方面，所述RFID标签的工作频率为840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。

本发明的另一方面，所述RFID标签的读取灵敏度优于-16dBm。

本发明的另一方面，所述待测试RFID标签读写器的天线的极化方式为圆极化。

本发明的另一方面，所述待测试RFID标签读写器的天线的增益为12dBi。

本发明还包括一种无源UHF RFID标签读写器协议性能测试方法，其特征在于，应用上述的无源UHF RFID标签读写器协议性能测试装置，还包括如下步骤：

步骤1，根据测试项目定义复数个测试用例，并选取一测试用例；

步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述待测试RFID标签读写器参数；

步骤3，使所述待测试RFID标签读写器向所述RFID标签发送指令；

步骤4，判断所述待测试RFID标签读写器是否接收到所述RFID标签的正确应答，如否则测试失败，并退出；

步骤5，使所述移动部以预定步长向一预定方向移动，并保持所述RFID标签的天线与所述待测试RFID标签读写器的天线之间的方向；

步骤6，使所述待测试RFID标签读写器向所述RFID标签发送指令；

步骤7，记录所述待测试RFID标签读写器是否接收到所述RFID标签的正确应答，如是则返回所述步骤5直至当前测试用例中的测试距离测试完毕；

步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。

本发明的另一方面，当所述移动部与所述待测试RFID标签读写器的天线距离为3米以内时，所述预定步长为0.5米；

当所述移动部与所述待测试RFID标签读写器的天线距离大于3米小于等于10米时所述预定步长为1米；

当所述移动部与所述待测试RFID标签读写器的天线距离大于10米时所述预定步长为2米。

本发明的另一方面，所述测试项目包括读写器不同距离连续读测试、读写器写距离测试、读写器识别距离测试。

本发明获得了以下有益效果：

可对无源UHF RFID标签读写器协议性能进行各项性能指标和工作状态的测试。

附图说明

图1为本发明无源UHF RFID标签读写器协议性能测试装置的结构示意图；

图2为本发明无源UHF RFID标签读写器协议性能测试方法的流程框图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。