[发明专利]一种继电器耐力学性能贮存退化分析方法

权利要求书

1.一种继电器耐力学性能贮存退化分析方法，其特征在于：它包括以下步骤：

步骤一：根据继电器的设计参数建立继电器触簧系统振动仿真模型；

步骤二：对触簧系统进行贮存退化试验，监测其试验过程中不同时刻的应力松弛程度数据；

步骤三：根据步骤二获取的试验数据，基于应力松弛理论建立触簧系统的贮存退化模型；

步骤四：将步骤三所得到的触簧系统贮存退化模型进行离散化，得到对应于不同贮存时间t的触簧系统应力松弛程度D(t)；

步骤五：按照步骤四所得到的应力松弛程度D(t)对步骤一中所建立的触簧系统振动仿真模型进行修改，得到对应于贮存时间t的触簧系统振动仿真模型，实现触簧系统贮存退化的注入并计算触簧系统常闭触点间的预压力值；

步骤六：对步骤五中获取的多个触簧系统振动仿真模型进行模态分析，确定对应于贮存时间t的触簧系统仿真模型的谐振频率；

步骤七：对步骤五中获取的多个触簧系统振动仿真模型进行频率响应分析，确定对应于贮存时间t的触簧系统仿真模型在谐振频率下的接触力响应值；

步骤八：对比步骤五所获取的预压力值与步骤七所得到的接触力响应值，判断贮存时间t时继电器的耐力学性能是否满足要求。

2.根据权利要求1所述的一种继电器耐力学性能贮存退化分析方法，其特征在于：步骤一中所述的根据继电器的设计参数建立继电器触簧系统振动仿真模型，是通过ANSYSWORKBENCH实现。

3.根据权利要求1所述的一种继电器耐力学性能贮存退化分析方法，其特征在于：步骤二中所述的触簧系统应力松弛程度为弹性元件的变形量。

4.根据权利要求1所述的一种继电器耐力学性能贮存退化分析方法，其特征在于：步骤三中所述的应力松弛理论采用Larson-Miller公式：

式中，θ为Larson-Miller参数；T为摄氏温度；t为贮存时间；C取20。

5.根据权利要求1所述的一种继电器耐力学性能贮存退化分析方法，其特征在于：步骤四中所述的将触簧系统贮存退化模型进行离散化是通过将贮存时间t代入到步骤三的退化模型中实现的。

6.根据权利要求1所述的一种继电器耐力学性能贮存退化分析方法，其特征在于：步骤五中所述的对触簧系统振动仿真模型进行修改，是通过对修改触簧系统中弹性元件的形状实现的。

7.根据权利要求1所述的一种继电器耐力学性能贮存退化分析方法，其特征在于：步骤六中所述的模态分析是通过ANSYS WORKBENCH实现的。

8.根据权利要求1所述的一种继电器耐力学性能贮存退化分析方法，其特征在于：步骤七中所述的频率响应分析是通过ANSYS WORKBENCH实现的。

9.根据权利要求1所述的一种继电器耐力学性能贮存退化分析方法，其特征在于：步骤八中，当所述预压力值大于所述接触力响应值时，继电器耐力学性能满足要求；反之，继电器耐力学性能不满足要求。