[发明专利]一种基于液晶像素补偿的LED背光坏点修复方法有效
申请号: | 201711077234.6 | 申请日: | 2017-11-03 |
公开(公告)号: | CN108231009B | 公开(公告)日: | 2019-10-25 |
发明(设计)人: | 张涛;邱亮;潘希豪 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G09G3/34 | 分类号: | G09G3/34;G09G3/36 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 杜文茹 |
地址: | 300192*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 坏点 背光 背光模组 光学仿真软件 液晶显示系统 接收表面 液晶像素 正常光源 液晶 修复 补偿因子 绘图工具 计算困难 显示效果 背光板 归一化 最大化 扩散 保证 | ||
1.一种基于液晶像素补偿的LED背光坏点修复方法,其特征在于,包括如下步骤:
1)利用光学仿真软件以及AutoCAD软件所带的绘图工具分别搭建正常光源情况下背光模组模型和有坏点情况下背光模组模型,每个背光模组模型都包括有背光腔的三维模型和膜片层的三维模型;
2)确定有坏点情况下背光模组模型中LED光源的坏点,并设定第i行第j列的坏点为N(i,j);
3)确定正常光源情况下背光模组模型接收表面的背光亮度值,是采用光学仿真软件进行仿真的方式得到液晶显示器在正常光源情况下的亮度值;
4)确定坏点情况下背光模组模型接收表面的背光亮度值,是采用光学仿真软件进行仿真的方式得到液晶显示器在坏点下的亮度值;
5)将正常光源情况下背光模组模型接收表面的背光亮度值和坏点情况下背光模组模型接收表面的背光亮度值分别归一化至0~255阶;
6)进行液晶补偿,液晶补偿的公式如下所示,
式中,KLCD(i,j)为液晶线性补偿因子,LB-255(i,j)为正常光源情况下归一化后的背光亮度值,L'B-255(i,j)为有坏点情况下归一化后的背光亮度值,R'(i,j)、G'(i,j)、B'(i,j)为液晶补偿后子像素的亮度值,R(i,j)、G(i,j)、B(i,j)为正常光源情况下的原子像素的亮度值。
2.根据权利要求1所述的一种基于液晶像素补偿的LED背光坏点修复方法,其特征在于,步骤2)所述的确定LED光源的坏点,是在背光激励信号的作用下点亮全部背光板上的LED光源,通过目测背光板,确定坏点的区域。
3.根据权利要求1所述的一种基于液晶像素补偿的LED背光坏点修复方法,其特征在于,步骤2)所述的确定LED光源的坏点,是借用光学仿真软件进行模组的照度仿真,照度仿真图中出现照度非均匀的区域为坏点区域。
4.根据权利要求1所述的一种基于液晶像素补偿的LED背光坏点修复方法,其特征在于,步骤3)包括:
将正常光源情况下的背光模组模型导入光学仿真软件中,并设置好基本的参数和膜片属性,包括有LED的功率、光线仿真数量、背光模组选用的材料和膜片的微结构,将接收表面添加到背光模组模型中,设置接收表面的空间亮度计,同时定义空间亮度计的距离、方位与收光角锥,并利用光学仿真软件中的选项进行调整,最后,空间亮度计显示的值即为正常光源情况下背光模组模型接收表面的背光亮度值。
5.根据权利要求1所述的一种基于液晶像素补偿的LED背光坏点修复方法,其特征在于,步骤4)包括:将有坏点情况下的背光模组模型导入光学仿真软件中,并设置好基本的参数和膜片属性,包括有LED的功率、光线仿真数量、背光模组选用的材料和膜片的微结构,将接收表面添加到背光模组模型中,设置接收表面的空间亮度计,同时定义空间亮度计的距离、方位与收光角锥,并利用光学仿真软件中的选项进行调整,在背光板的坏点N(i,j)处将LED光源屏蔽,最后,空间亮度计显示的值即为坏点情况下背光模组模型接收表面的背光亮度值。
6.根据权利要求1所述的一种基于液晶像素补偿的LED背光坏点修复方法,其特征在于,步骤5)包括:
设正常光源情况下背光模组模型接收表面的背光亮度值为LB(i,j),并将背光亮度值LB(i,j)的平均值作为液晶补偿亮度的归一化标准值,记为LB-ave(i,j),公式如下:
式中,i是LED光源的行,j是LED光源的列,
将背光亮度值LB(i,j)进行min-max离差标准化,使结果值映射到[0-1]之间后再通过下式拉伸到0~255,
式中,LB-255(i,j)为归一化至0~255阶的背光亮度值,LB-min、LB-max分别为背光亮度最大值和最小值,
将坏点情况下背光模组模型接收表面的背光亮度值按照下式归一化至0~255阶,获得归一化亮度矩阵L'B-255(i,j),
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