[发明专利]一种处理盒的显影检测方法及处理盒

说明书

本发明涉及一种处理盒的显影检测方法及处理盒，该处理盒可拆卸地安装在电子成像装置中，电子成像装置包括发光元件和受光元件，所述处理盒包括第一透光元件和第二透光元件，所述电子成像装置通过发光元件发出检测光至处理盒的第一透光元件并将检测光反射至第二透光元件，所述第二透光元件将检测光引导至所述电子成像装置的受光元件中，当受光元件没有接收到检测光或接收到的检测光的光强度或光照时间低于预设值时，所述电子成像装置识别所述处理盒，所述处理盒可与电子成像装置进行显影工作。

技术领域

本发明涉及一种处理盒的检测方法及处理盒。

背景技术

在现有技术中，处理盒可拆卸地安装在电子成像装置上。该电子成像装置内设有输出旋转驱动力的驱动头。处理盒一般包括有接收旋转力的驱动组件、显影单元、显影剂、控粉单元以及容纳上述单元的壳体，另外根据不同种类的处理盒结构，还额外地设置有感光单元、充电单元、清洁单元以及搅拌单元等。该处理盒的驱动组件沿显影单元或感光单元的轴向设置在处理盒的一端，通过该驱动组件与电子成像装置中的驱动头相互啮合后进而将旋转的驱动力传递至处理盒中，最后驱动处理盒内部的旋转单元(如显影单元、感光单元、搅拌单元等)转动，参与电子成像装置的显影作业(即常说的“打印”)。

随着处理盒在电子成像装置中的显影作业，处理盒内的显影剂也随之被消耗，因此，为检测出处理盒内的显影剂的余量，需通过电子成像装置内的检测机构对处理盒内的显影剂进行余量检测。

如图1所示，为处理盒b的侧面剖视图，处理盒b的显影仓b100的显影剂容纳腔b150内收容有显影剂，显影仓b100的上表面设置有上透光元件b1a及入射表面b1a1，显影仓b100的底表面设置有下透光元件b2a及出射表面b2a1，上透光元件b1a和下透光元件b2a在显影仓b100的高度上对应设置。电子成像装置中设有与入射表面b1a1对应的发光元件LS101(如发光二级管(LED)的发光部)，与出射表面b2a1对应的受光元件LS102。在处理盒b安装在电子成像装置时，发光元件LS101通过发射出检测光至上透光元件b1a的入射表面b1a1并引导至反射面后将检测光进行反射至与之对应处于显影仓b100底部的下透光元件b2a，最后经过反射将检测光从出射表面b2a1向外输出并被受光元件LS102进行接收。这里，电子成像装置内还设有连接发光元件LS101和受光元件LS102的检测装置，检测装置将对受光元件LS102接收到的检测光进行检测判断，若检测光的光强度或光照时间达不到预设值，则判断处理盒b还剩余有显影剂；若检测光的光强度或光照时间达到预设值，则判断处理盒b中的显影剂已经消耗完毕并提示使用者补充显影剂或更换处理盒。

然而，目前已有使用两组光检测件(两对发光元件和受光元件)对处理盒进行检测以确定使用者安装的处理盒是否为该预设目标处理盒的新型的电子成像装置，仅有一组透光元件(上透光元件和下透光元件)的现有处理盒已经不能适应在该新型的电子成像装置上。

发明内容

本发明提供一种处理盒的显影检测方法及处理盒，实现与设有两组光检测件的电子成像装置进行匹配适用；处理盒内部没有装载有显影剂的情况下可以对处理盒进行显影检测。

为了解决以上的技术问题，本发明采取的技术方案是：

一种处理盒的显影检测方法，该处理盒可拆卸地安装在电子成像装置中，电子成像装置包括发光元件和受光元件，所述处理盒包括第一透光元件和第二透光元件，其特征在于：

所述电子成像装置通过发光元件发出检测光至处理盒的第一透光元件，第一透光元件再将检测光反射至第二透光元件，所述第二透光元件将检测光引导至所述电子成像装置的受光元件中，当受光元件没有接收到检测光或接收到的检测光的光强度或光照时间低于预设值时，所述电子成像装置识别所述处理盒，所述处理盒可与电子成像装置进行显影工作；

所述处理盒的显影检测方法包括如下步骤：

A.对所述处理盒的显影单元表面进行涂覆显影剂；