[发明专利]一种电路板测试点引线装置

说明书

技术领域

本发明涉及PCB技术领域，特别涉及一种电路板测试点引线装置。

背景技术

随着中国电子技术的发展，越来越多的电子设备已得到广泛使用。

在电子零部件生产制造企业，PCB板是最为常见的电子零部件。PCB(Printed Circuit Board，印制电路板)是电子元器件的支撑体，同时也是电子元器件电气连接的载体，在其上密集地设置有若干个电容、电感、电阻、逻辑器件等零部件。

PCB上的微电路复杂且多样，为保证PCB上的各个元器件能够正常运行，需要定期对PCB进行测试。测试的主要内容为PCB是否有短路或是断路的状况，该项测试可以使用光学或电子方式测试。光学方式采用扫描以找出各层的缺陷，电子测试则通常用飞针探测仪(Flying-Probe)来检查所有连接。电子测试在寻找短路或断路比较准确，不过光学测试可以更容易侦测到导体间不正确空隙的问题。

目前，在电路板的调试过程中，需要在PCB板上对目标测试点给予测试，主要通过示波器测试各个测试点的反馈信号。在现有技术中，进行测试时需要将PCB上的测试点的信号引来，如此需要在PCB板上进行焊接，将测试线焊接在测试点上，保证测试线与PCB测试点的稳定信号连接。

然而，由于PCB上的微电路集成度和精细度非常高，测试人员在将测试线焊接在PCB的测试点上时，焊接过程中有较高的风险导致PCB损坏。同时，PCB上的测试点同时存在多个，若要完成全部检测，则需要依次对每个测试点进行测试线焊接，不仅操作繁琐，而且费时费力，测试效率较低。

因此，如何快速、方便地完成对PCB测试点的检测，同时防止对PCB的损坏，提高测试效率，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种电路板测试点引线装置，能够快速、方便地完成对PCB测试点的检测，同时防止对PCB的损坏，提高测试效率。

为解决上述技术问题，本发明提供一种电路板测试点引线装置，包括用于吸附固定在PCB表面上的吸附部件、设置在所述吸附部件上的弹簧、连接于所述弹簧末端并用于在其反力作用下抵接住PCB测试点的探针、连接于所述弹簧首端并用于将PCB测试点的信号引出的引出线。

优选地，所述吸附部件具体为吸盘，且所述弹簧设置于所述吸盘中心。

优选地，所述弹簧的首端固定连接在所述吸附部件的顶部。

优选地，所述吸附部件的顶部设置有用于裹紧所述弹簧首端以防止其晃动的密封胶。

优选地，所述弹簧的伸缩方向为垂向。

本发明所提供的电路板测试点引线装置，主要包括吸附部件、弹簧、探针和引出线。其中，吸附部件主要用于吸附固定在PCB表面上，当然，由于固定方式为表面吸附，因此吸附部件可以根据需要随时与PCB脱离连接。弹簧设置在吸附部件上，主要用于在重力作用下与PCB表面相抵接，并产生弹性反力。探针连接在弹簧的末端，主要用于在弹簧的反力作用下与PCB板表面的PCB测试点抵接，保证稳定的信号连接。引出线连接在弹簧的首端，主要用于将探针所检测到的PCB测试点反馈信号引出并传递至检测接收装置，进行信号检测。如此，本发明所提供的电路板测试点引线装置，在对PCB测试点进行测试时，首先可将吸附部件吸附在目标测试点周围的PCB表面上，然后吸附部件上的弹簧在重力作用下垂下与PCB板表面抵接，在正压力作用下收缩一定距离，并在弹簧内部形成弹性反力，同时弹簧末端的探针在弹簧的反力作用下抵接住PCB测试点，将PCB测试点的反馈信号传递至弹簧首端的引出线，最后通过引出线将测试信号传递至测试接收装置。相比于现有技术，本发明无需在PCB表面上焊接测试线，避免对PCB造成损坏，同时吸附部件可与PCB表面形成快速固定或脱离，因此能够快速、方便地完成对各个PCB测试点的检测，提高测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明所提供的一种具体实施方式的整体结构示意图。

其中，图1中：

吸附部件—1，弹簧—2，探针—3，引出线—4，密封胶—5。

具体实施方式