[发明专利]一种微波辐射计天线辐射效率测试方法及系统在审
| 申请号： | 201711044159.3 | 申请日： | 2017-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN107942146A | 公开（公告）日： | 2018-04-20 |
| 发明（设计）人： | 李一楠;崔华阳;郭语;王鑫;梁丽莎;吕容川;宋广南;杨小娇;李鹏飞;卢海梁;王丛丛;李浩 | 申请（专利权）人： | 西安空间无线电技术研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心11009 | 代理人： | 张晓飞 |
| 地址： | 710100 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 微波 辐射计 天线 辐射 效率 测试 方法 系统 | ||
1.一种微波辐射计天线辐射效率测试方法，其特征在于步骤如下：
1)定标微波辐射计接收机定标斜率和定标偏置；
2)使用微波辐射计天线观测亮温值已知的场景，获得此时微波辐射计的输出电压，测量微波辐射计天线的物理温度，根据定标结果计算微波辐射计接收机端面的亮温值；
3)根据已知场景的亮温值和微波辐射计接收机端面的亮温值，计算得到微波辐射计天线辐射效率。
2.根据权利要求1所述的一种微波辐射计天线辐射效率测试方法，其特征在于：所述定标微波辐射计接收机定标斜率和定标偏置的具体方法为：向微波辐射计接收机分别注入匹配负载温度以及噪声定标源温度获取微波辐射计输出的与匹配负载温度以及噪声定标源温度相对应的输出电压VU和VHOT，通过两点定标法获得微波辐射计接收机的定标斜率K和定标偏置b。
3.根据权利要求2所述的一种微波辐射计天线辐射效率测试方法，其特征在于：所述通过两点定标法获得微波辐射计接收机端面的定标斜率K和定标偏置b的方法为：
4.根据权利要求2或3所述的一种微波辐射计天线辐射效率测试方法，其特征在于：所述根据定标结果计算微波辐射计接收机端面的亮温值Tin的具体公式为：
其中，VA为使用微波辐射计天线观测亮温值已知场景时获得的微波辐射计的输出电压。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安空间无线电技术研究所，未经西安空间无线电技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711044159.3/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
