[发明专利]射频标签读写设备、定位方法及系统

权利要求书

1.一种射频标签读写设备的定位方法，其特征在于，应用于射频标签读写设备，所述射频标签读写设备包括多个天线，所述射频标签读写设备的定位方法包括：

接收至少一个天线采集的射频识别标签的数据信息，所述射频识别标签在所述至少一个天线的覆盖区域内，所述数据信息包括所述射频识别标签与采集所述射频识别标签的天线的距离信息；

确定所述至少一个天线在预设采样周期内采集所述射频识别标签的数据信息的实际采集次数；

依据所述至少一个天线相应的实际采集次数，从所述至少一个天线中确定出目标天线，所述目标天线的覆盖区域为所述射频识别标签所在区域；

所述依据所述至少一个天线相应的实际采集次数，从所述至少一个天线中确定出目标天线包括：

依据预先设置的采样时间与所述预设采样周期，确定在所述预设采样周期内的理论采集次数；

将所述至少一个天线中，实际采集次数大于等于所述理论采集次数与第一预设系数乘积的天线，确定为所述目标天线；

当所述至少一个天线相应的实际采集次数均小于所述理论采集次数与所述第一预设系数乘积时，确定所述至少一个天线相应的实际采集次数中包括，至少两个天线相应的实际采集次数大于等于所述理论采集次数与第二预设系数乘积，所述第一预设系数大于所述第二预设系数；

分别将所述至少两个天线在所述预设采样周期内采集的各距离信息进行预设计算，获得所述至少两个天线相应的目标距离；

将所述至少两个天线相应的目标距离中最小的目标距离对应的天线，确定为所述目标天线，所述目标天线的覆盖区域为所述射频识别标签所在区域。

2.根据权利要求1所述射频标签读写设备的定位方法，其特征在于，所述第二预设系数包括第一子系数、第二子系数和第三子系数，所述第一子系数大于所述第二子系数，所述第二子系数大于所述第三子系数，所述确定所述至少一个天线相应的实际采集次数中包括，至少两个天线相应的实际采集次数大于等于所述理论采集次数与第二预设系数乘积包括：

确定所述至少一个天线中包括至少两个天线相应的实际采集次数大于等于所述理论采集次数与所述第一子系数的乘积；

当所述至少一个天线中不包括至少两个天线相应的实际采集次数大于等于所述理论采集次数与所述第一子系数的乘积时，确定所述至少一个天线中包括至少三个天线相应的实际采集次数大于等于所述理论采集次数与所述第二子系数的乘积；

当所述至少一个天线中不包括至少三个天线相应的实际采集次数大于等于所述理论采集次数与所述第二子系数的乘积时，确定所述至少一个天线中包括至少四个天线相应的实际采集次数大于等于所述理论采集次数与所述第三子系数的乘积。

3.根据权利要求1所述射频标签读写设备的定位方法，其特征在于，所述依据所述至少一个天线相应的实际采集次数与所述理论采集次数，从所述至少一个天线中确定出目标天线还包括：

将所述至少一个天线中实际采集次数小于等于预设次数的天线，确定为干扰天线。