[发明专利]基于S2method时频分析的目标极点特征提取与检测方法

权利要求书

1.一种基于S²-method时频分析的目标极点特征提取与检测方法，其特征在于，包含以下步骤：

S1、生成并发射窄脉冲基带信号，得到目标的多方位时域窄脉冲回波信号；

S2、利用S2-method时频分析方法，得到目标的多方位时域窄脉冲回波信号的时频域信息，并从中提取不同时间点的最大极点信息；

S3、利用多方位合成技术得到不同方位角度下的回波信号；

S4、利用时间反转技术将S3中得到的不同方位角度下的回波信号进行时间反转，并发射出去以获得匹配回波信号；

S5、在噪声和干扰情况下，利用匹配回波信号完成对弱小目标的有效检测。

2.如权利要求1所述的基于S²-method时频分析的目标极点特征提取与检测方法，其特征在于，所述的S1中，位于高频区的目标的各散射中心是理想的点目标，目标模型表示为：

h(t,θ)=Σi=0N-1ai(θ)δ(t-Ti(θ));]]>

式中，a_i、T_i为散射中心的强度和时延；t为时间；δ为冲击响应函数；θ为目标姿态角；N为散射中心数目。

3.如权利要求1所述的基于S²-method时频分析的目标极点特征提取与检测方法，其特征在于，所述的S2中，定义离散信号x(n)的S-method分布为：

SM(n,k)=1N+1Σi=-LLSTFT(n,k+i)STFT*(n,k-i);]]>

其中，k为频率序号；n为时间序列；N+1为离散信号x(n)的长度；L为S-method分布的计算项数；STFT(n,k)表示离散信号x(n)的短时傅里叶变换；STFT^*(n,k)表示STFT(n,k)的共轭。