[发明专利]一种低压电器产品试验检测装置及试验检测方法在审

专利信息
申请号: 201710962813.2 申请日: 2017-10-16
公开(公告)号: CN107870274A 公开(公告)日: 2018-04-03
发明(设计)人: 黄和菊 申请(专利权)人: 黄和菊
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/327
代理公司: 青岛高晓专利事务所(普通合伙)37104 代理人: 黄晓敏
地址: 810000 青海省海*** 国省代码: 青海;63
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摘要:
搜索关键词: 一种 低压 电器产品 试验 检测 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及低压电器产品的测试技术领域,尤其是涉及一种低压电器产品试验检测装置及试验检测方法。

背景技术

低压交流断路器作为一种低压电器产品广泛应用在电力系统输配电中,产品类型较多,例如万能式断路器、塑壳断路器、小型断路器、剩余电流动作断路器等。根据实际使用情况低压交流断路器一般适用于额定电压不超过1140V,额定电流不超过6300A,频率为50Hz的工农业生产及居民日常生活中。低压交流断路器在线路检修和日常使用过程需要进行闭合和断开操作,为了保证低压交流断路器有足够的闭合和分断操作次数。在上述相关产品标准中规定了低压交流断路器在电气寿命试验系统的额定电流和额定电压下,进行闭合和断开操作的次数、频率和时间,该试验被称作低压电器产品的电气寿命试验。

低压交流断路器的电气寿命试验一般试验周期较长,试验危险性较大,试验过程中出现异常情况时试验人员通过外表观察难以发现,由此导致出现紧急情况时处理不及时引发事故,造成损失。例如某型号低压交流断路器在进行电气寿命试验过程中手柄的机械操作机构失效,试验人员从外部观察手柄在进行正常的闭合和断开操作,但是低压交流断路器的内部触头一直保持闭合状态。触头保持闭合状态使得电气寿命试验系统中有电流存在,根据焦耳定律推理电流的存在会产生热量,持续产生大量的热量不能及时散发,因此在电气寿命试验系统中引发火灾,造成巨大的经济损失。

CN201110454595.4提供了一种机械及电气寿命试验系统,该系统包括由至少20套试验回路构成的电源装置,电源装置连接分布式测量控制装置,分布式测量控制装置通过通信总线与集中监控装置相连接,集中监控装置通过以太网与远程监控设备相连接,分布式测控装置及集中监控装置通过通信总线与数据存储装置相连接,能同时完成多达20种不同试验参数、120个不同试品的机械及电气寿命的试验室测量。CN201220497155.7公开了一种继电器触点电气寿命试验装置,包括交流稳压电源、阻性负载组和PLC试验控制柜,通过电缆依次串联而成,能对触点的实际使用情况的寿命进行模拟试验。

CN201510746352.6提出了一种剩余电流动作断路器的电气寿命试验操作装置及其应用,该装置可以实现自动完成剩余电流动作断路器手柄闭合、试验按钮断开的操作循环,用于对剩余电流动作断路器进行电气寿命试验的闭合和断开操作。

CN201610154180.8提出了一种智能变电站断路器电气寿命损失及灭弧能力评价方法, 利用网络报文记录仪在GOOSE网捕捉带时标的断路器分闸命令报文和与之对应的断路器分闸位置报文,获得继电保护装置或测控装置发出分闸命令的时刻和智能终端发出分闸位置报文的时刻,计算断路器燃弧开始时刻,根据采集数据的序列进行综合评价。CN201220314265.5提出了一种断路器电气剩余使用寿命预测装置,该装置直接测量断路器的合闸时间、过电压、开断电流、环境气压、使用次数和绝缘系数,并将这些作为输入量,利用A/D转换器、处理器、变换电路、工控机和传输模块实现断路器使用寿命的预测。

CN201110434114.3提出了一种磁控开关电气寿命的检测装置, 能够模拟多种测试环境,从而检测出磁控开关在不同模拟环境下的电气寿命,具有测试准确的优点,且该装置结构简单,成本低。CN201410627879.2提出了一种断路器电气寿命试验保护装置及其运行方式,该装置通过硬件电路对电气寿命试验过程中试验时间、试验次数等数据的实时监测进行判断和保护。

上述现有技术虽然从电气寿命试验系统、电气寿命操作装置、电气寿命损失及预测、电气寿命检测、电气寿命试验保护装置等方面对电气寿命试验展开研究。但是在低压电器产品的电气寿命试验过程中,关键参数是额定电压、额定电流、通电时间、间隔时间、试验次数,上述五个参数是相关联的,需要同时进行监测,然后进行综合评价,来判断电气寿命试验过程中是否发生异常情况,并及时采取保护措施。本发明从通过对关键参数的实时数据采集,进行综合评价,做出相应判断,实现对低压电器产品的电气寿命试验监测保护。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种可以检测试验低压电器产品的低压电器产品试验检测装置及试验检测方法,针对低压电器产品的电气寿命试验过程进行监测保护,克服现有技术对低压电器产品电气寿命试验过程关键参数监测不完整,对某些故障现象不能及时发现以及出现故障时采取保护措施的不足的缺陷。

为了实现上述目的,本发明采用以下技术方案:

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