[发明专利]一种像素补偿方法及系统、显示装置有效
申请号: | 201710955277.3 | 申请日: | 2017-10-13 |
公开(公告)号: | CN109671393B | 公开(公告)日: | 2020-07-31 |
发明(设计)人: | 孟松;吴仲远 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/3225 | 分类号: | G09G3/3225 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 像素 补偿 方法 系统 显示装置 | ||
1.一种像素补偿方法,其特征在于,包括:
获取像素的驱动晶体管的当前补偿用特性值K;
根据像素的驱动晶体管的当前补偿用特性值K,对对应的像素进行补偿;
所述获取像素的驱动晶体管的当前补偿用特性值K,包括:
对像素的驱动晶体管进行检测,得到像素的驱动晶体管的当前特性值K1;
提取上一轮次获取的像素的驱动晶体管的历史补偿用特性值K2;
根据像素的驱动晶体管对应的所述当前特性值K1和所述历史补偿用特性值K2,计算获得像素的驱动晶体管的所述当前补偿用特性值K;
所述根据像素的驱动晶体管对应的所述当前特性值K1和所述历史补偿用特性值K2,计算获得像素的驱动晶体管的所述当前补偿用特性值K,包括:
计算所述当前特性值K1与所述历史补偿用特性值K2之间的差值Ktemp,其中,Ktemp=K1-K2;
根据所述差值Ktemp,确定步长值Kstep,其中,0Kstep|Ktemp|;
比较所述当前特性值K1与所述历史补偿用特性值K2的大小;
根据所述当前特性值K1与所述历史补偿用特性值K2的大小、以及所述步长值Kstep,计算获得所述当前补偿用特性值K;
其中,当所述当前特性值K1大于所述历史补偿用特性值K2时,K=K2+Kstep;当所述当前特性值K1小于所述历史补偿用特性值K2时,K=K2-Kstep;或者,
当所述当前特性值K1大于所述历史补偿用特性值K2时,K=K1-Kstep;当所述当前特性值K1小于所述历史补偿用特性值K2时,K=K1+Kstep。
2.根据权利要求1所述的像素补偿方法,其特征在于,根据所述差值Ktemp,确定步长值Kstep,包括:
设定步长系数a,其中,a小于1且大于0;
根据所述差值Ktemp和所述步长系数a,计算所述步长值Kstep,其中,Kstep=a×|Ktemp|。
3.根据权利要求1所述的像素补偿方法,其特征在于,根据所述差值Ktemp,确定步长值Kstep,包括:
设定n个区间并设定每个所述区间对应的步长标准值,n为大于0的整数;
判断所述差值Ktemp所落入的所述区间,确定对应于所述差值Ktemp所落入的所述区间的步长标准值为所述步长值Kstep。
4.根据权利要求3所述的像素补偿方法,其特征在于,n个所述区间中,第i个区间的起始端点与第i-1个区间的终止端点相等,且第i-1个区间在第i-1个区间的终止端点开放时,第i个区间在第i个区间的起始端点闭合,第i-1个区间在第i-1个区间的终止端点闭合时,第i个区间在第i个区间的起始端点开放,其中,2≤i≤n。
5.根据权利要求1所述的像素补偿方法,其特征在于,根据像素的驱动晶体管的当前补偿用特性值K,对对应的像素进行补偿,包括:
将获取的像素的驱动晶体管的所述当前补偿用特性值K存储在存储器中;
从所述存储器提取像素的驱动晶体管的所述当前补偿用特性值K,对对应的像素进行补偿。
6.根据权利要求1所述的像素补偿方法,其特征在于,根据像素的驱动晶体管的当前补偿用特性值K,对对应的像素进行补偿,包括:
将相邻轮次分别获取的所有像素中各像素的驱动晶体管的当前补偿用特性值K交替存储在第一存储区和第二存储区中,每轮次获取的所有像素中各像素的驱动晶体管的当前补偿用特性值K存储完成后,提取像素的驱动晶体管的当前补偿用特性值K,对对应的像素进行补偿。
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