[发明专利]一种电路板耐受过电压损伤的实验装置及实验方法

权利要求书

1.一种电路板耐受过电压损伤的实验方法，包括实验装置，所述实验装置包括测试箱、可使所述测试箱内呈不同强度电场的脉冲电压发生系统、控制并调节所述测试箱内部温度的温度控制系统、放置待测电路板的支架以及数据处理系统；

测试过程包括如下步骤，

S1，接通直流电源，电加热装置开始给测试箱内部加热；

S2，对温度调节系统预设不同的控制温度T，使电加热装置的加热温度维持在相应的预设控制温度水平；

S3，电路板温度达到预设的控制温度T且温度恒定时，接通脉冲电压发生系统，使电路板处于过电压环境下；

S4，通过数据处理系统读取电路板的放电量；

S5，通过获取的放电量计算不同温度环境下耐受电压，并评价电路板的耐受等级；

通过如下公式计算耐受电压；

其中，U_评为耐受 电压，Q_测为检测到的电路板放电量，T为温度调节系统的预设控制温度，U_设为脉冲电压值，T和U_设均可变。

2.如权利要求1所述的一种电路板耐受过电压损伤的实验方法，其特征在于：当耐受电压大于300时，耐受等级为高，耐受电压小于或等于300且大于100时，耐受等级为中，耐受电压小于等于100时，耐受等级为低。

3.如权利要求1所述的一种电路板耐受过电压损伤的实验方法，其特征在于：在过电压环境下，使用特高频天线收集放电量，并经放大滤波回路滤除干扰信号后再传输给数据采集系统。

4.如权利要求1所述的一种电路板耐受过电压损伤的实验方法，其特征在于：所述温度调节系统检测温度传感器的检测的实时温度信号，与预设的温度T比较，并根据比较结果调整直流电源的输出功率，进而调整电加热装置的加热温度及整个测试箱内的温度。

5.如权利要求1至4任一项所述的一种电路板耐受过电压损伤的实验方法，其特征在于：测试开始前，将温度调节系统预设在电路板常规工作环境的温度值，脉冲电压为过电压，测试并计算得出电路板的耐受电压，此后，以固定的温度间隔上调温度调节系统的预设温度T，对不同温度下过电压对电路板损伤产生的放电量进行检测收集，计算评估电路板的耐受电压等级；然后保持温度恒定，改变脉冲电压发生系统的脉冲电压，反复重复前述过程，至预设温度到达最高值，脉冲电压达到最高值，通过计算评估不同工况下电路板的耐受电压及相应的质量等级。

6.如权利要求1所述的一种电路板耐受过电压损伤的实验方法，其特征在于：所述温度控制系统包括设置在所述测试箱内部的电加热装置、向所述加热装置提供电压的直流电源、安装在所述测试箱内部的温度传感器以及与所述温度传感器、直流电源连接的温度调节系统。

7.如权利要求6所述的一种电路板耐受过电压损伤的实验方法，其特征在于：所述电加热装置包括两个或更多个电加热器，纵向设置在所述测试箱内部靠近所述支架处。

8.如权利要求1所述的一种电路板耐受过电压损伤的实验方法，其特征在于：所述测试箱内壁与外壁之间设有绝热材料。