[发明专利]一种批量校准电流侦测的装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及板卡测试技术领域，具体的说是一种对VR电流侦测进行批量校准的装置及方法。

背景技术

在服务器研发设计及生产过程中，需要对板卡芯片进行多项测试，随着芯片集成度的提高，芯片所需电流不断提升，为了进一步降低芯片的总功耗，需要芯片的工作电压不断降低。同时，由于芯片集成的晶体管越来越多，导致其所需电流的动态变化速度也越来越快，变化幅值越来越大。上述状况的出现，导致电压调节器VR调节PWM信号难度的增加，因此，为了提升电压调节器对负载的响应速度，需要VR对负载电流进行侦测。

目前，VR电流侦测方法主要有两种：一是侦测输出电感DCR，二是侦测MOSFET的Rds(On)。但是，上述现有技术只能针对单一板卡，而且要在实验室内完成校准，无法将校准的参数应用到量产的大量板卡上，，如果对量产板卡都进行逐一校准，既费时又费力，还可能对板卡造成破坏。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种批量校准电流侦测的装置及方法，利用服务器的基板管理控制器制负载芯片的状态，实现VR电流侦测的批量校准，省时省力。

本发明解决其技术问题采取的技术方案是：

本发明实施例提供了一种批量校准电流侦测的装置，包括：

基板管理控制器，分别与电压调节器和负载芯片连接，用来向电压调节器读取并写入数据，以及控制负载芯片的工作状态；

电压调节器，分别与基板管理控制器和负载芯片连接，用以对负载芯片的负载电流进行侦测，并存储基板管理控制器写入的数据。

进一步的，所述基板管理控制器内设有若干寄存器，所述的寄存器分别对应负载芯片和电压调节器，并显示负载芯片的工作状态状态，以及电压调节器的侦测数据。

进一步的，基板管理控制器写入电压调节器的数据包括修正参数，用以作为电压调节器校准的基准值。

进一步的，所述修正参数包括第一修正参数和第二修正参数，第一修正参数用以对电流侦测初始值进行绝对值校准，第二修正参数用以对电流侦测初始值放大倍数进行校准。

进一步的，本发明还提供一种电流侦测批量校准的方法，包括以下步骤：

S1：通过负载芯片对实验室板卡的电压调节器电流侦测进行校准，获取原始校准数据；

S2：将原始校准数据写入量产板卡的基板管理控制器中；

S3：基板管理控制器读取量产板卡的负载电流，获取实时校准数据；

S4：基板管理控制器利用原始校准数据和实时校准数据计算出修正参数；

S5：基板管理控制器将修正参数写入电压调节器内。

进一步的，步骤S1的具体实现过程为：

S11：关断负载芯片的负载，测量负载芯片的无负载电流值；

S12：给负载芯片两端施加电压，测量负载芯片的压力电流值；

S13：将步骤S11中获取无负载电流值和步骤S12中获取的压力电流值合并为原始校准数据。

进一步的，步骤S3的具体实现过程为：

S31：基板管理控制器关断负载芯片的负载，读取负载芯片的无负载电流值；

S32：基板管理控制器给负载芯片两端施加电压，读取负载芯片的压力电流值；

S33：基板管理控制器将步骤S31中获取无负载电流值和步骤S32中获取的压力电流值合并为实时校准数据。

进一步的，步骤S4的具体实现过程为：

S41：基板管理控制器依据原始校准数据，得出理想侦测线：y₁＝k₁x+b₁；

S42：基板管理控制器依据实时校准数据，得出测试侦测线：y₂＝k₂x+b₂；

S43：计算第一修正参数b＝b₂-b₁；

S44：计算第二修正参数由k＝k₂/k₁。

本发明的有益效果是：

1、本发明提供的批量校准电流侦测的装置，使得技术人员可以对量产的大批板卡进行校准，省时省力，提高了板卡的生产效率。

2、本发明通过由基板管理器控制负载芯片及读取处理侦测电流的方法，将修正参数永久写入电压调节器内部，在自动校准的基础上避免了输出电感DCR、MOSFET的Rds或外围电路的误差导致的电流侦测不准。

附图说明

图1是本发明校准结构示意图；