[发明专利]数据测试方法、装置及电子设备

说明书

本发明实施例提供一种数据测试方法、装置及电子设备，涉及测试技术领域。所述数据测试方法包括：使用MVP架构将Instrumentation Test测试工程划分为Model层、View层和Presenter层；在Java虚拟机上运行对Model层和Presenter层的测试用例的测试，得到Model层的测试用例的测试通过率和覆盖率的第一数据文件，以及Presenter层的测试用例的测试通过率和覆盖率的第二数据文件，其中，第一数据文件为ec文件，第二数据文件为ec文件；在Dalvik/ART虚拟机上运行对View层的测试用例的测试，得到View层的测试用例的测试通过率和覆盖率的第三数据文件，第三数据文件为exec文件；将第一数据文件、第二数据文件和第三数据文件进行合并，生成测试报告数据。使用该数据测试方法、装置及电子设备，能够提高测试效率。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，具体而言，涉及一种数据测试方法、装置及电子设备。

背景技术

在应用程序开发过程中，程序测试是程序正式提交给测试人员进行大规模功能测试前的一个重要且必要的环节。所谓程序测试，通常指对程序中最小可测试单元进行逻辑检查和验证，待测试通过后方可提交程序至测试部门展开下一阶段的测试工作。经发明人研究发现，现有的程序测试方案较为繁复，测试效率有待提高。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种数据测试方法、装置及电子设备，以改善现有技术中测试效率有待提高的问题。

本发明较佳实施例提供了一种测试方法，包括：

使用MVP架构将Instrumentation Test测试工程划分为Model层、View层和Presenter层；

在Java虚拟机上运行对所述Model层和Presenter层的测试用例的测试，得到所述Model层的测试用例的测试通过率和覆盖率的第一数据文件，以及所述Presenter层的测试用例的测试通过率和覆盖率的第二数据文件，其中，所述第一数据文件为ec文件，所述第二数据文件为ec文件；

在Dalvik/ART虚拟机上运行对所述View层的测试用例的测试，得到所述View层的测试用例的测试通过率和覆盖率的第三数据文件，所述第三数据文件为exec文件；

将所述第一数据文件、第二数据文件和第三数据文件进行合并，生成测试报告数据。

可选地，所述Model层、View层和Presenter层的测试用例的测试采用并发模式运行。

可选地，所述方法还包括：采取布尔逻辑插桩的方式动态控制所述Model层、View层和Presenter层的测试用例的测试进程。

可选地，采取布尔逻辑插桩的方式动态控制所述Model层、View层和Presenter层的测试用例的测试进程的步骤，包括：

定义插桩布尔函数公式：

S(P₁，P₂...P_m)＝P₁(x_t1，x₁₂，...x_1n....)^

P₂(x21，x22，...x2n....)^

P_m(x_m1，x_m2，...x_mn....)

其中，S为执行测试通过率估值；P为对应组件测试用例集合测试布尔函数，取值范围为(0，1]；x为测试用例执行通过率；m为大于2的整数，n为大于2的整数；

分组件测试函数集合分别动态计算所述Model层、View层和Presenter层测试用例的测试通过率估值S；