[发明专利]一种显示面板检测方法及其装置

说明书

本发明实施例提供一种显示面板检测方法及其装置，其中，该显示面板检测方法包括：向显示面板上的每个像素驱动电路的输入端输入测试信号；采集每个像素驱动电路的输出端输出的电压；根据每个像素驱动电路的输出端输出的电压，形成用于检测显示面板Mura现象的图像，本发明的技术方案通过对每个像素驱动电路输入测试信号，根据每个像素驱动电路的输出端输出的电压，形成图像来检测显示面板Mura现象，能够检测未进行OLED器件制作的显示面板是否存在Mura现象，并将阈值电压漂移不均匀的显示面板排除，节约了制作成本。

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板检测方法及其装置。

背景技术

有源矩阵有机发光二极管(Active Matrix/Organic Light Emitting Diode，简称AMOLED)显示器是当今显示器研究领域的热点之一。与液晶显示器(Liquid CrystalDisplay，简称LCD)相比，有机发光二极管OLED显示器具有低能耗、生产成本低、自发光、宽视角及响应速度快等优点。

目前，AMOLED显示面板可以利用氧化物(Oxide)的薄膜晶体管(TFT)工艺技术来制作。一般来说，采用氧化物的薄膜晶体管工艺技术所制作出来的AMOLED显示面板，其像素驱动电路中的薄膜晶体管的型态可以为P型或N型，但无论是选择P型还是N型薄膜晶体管来实现像素驱动电路，有机发光二极管的电流均会随着驱动晶体管的阈值电压偏移有所变化，使得AMOLED显示面板产生显示亮度不均匀Mura现象，进而影响AMOLED显示面板的亮度均匀性与亮度恒定性。

经发明人研究发现，现有技术中需要通过人为观察显示面板上的OLED的发光情况才能检测到显示面板是否存在Mura现象，若未进行OLED器件制作的显示面板存在阈值电压偏移不均匀现象，此时在其上制作OLED器件的显示面板就会无法使用，造成了制作成本的浪费。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种显示面板检测方法及其装置，能够检测未进行OLED器件制作的显示面板是否存在Mura现象，并将阈值电压漂移不均匀的显示面板排除，节约了制作成本。

为了达到本发明目的，本发明实施例提供了一种显示面板检测方法，包括：

向显示面板上的每个像素驱动电路的输入端输入测试信号；

采集所述每个像素驱动电路的输出端输出的电压；

根据每个像素驱动电路的输出端输出的电压，形成用于检测显示面板Mura现象的图像。

可选地，每个像素驱动电路的输入端包括：数据信号端、扫描信号端和可变电压端；

则所述向显示面板上的每个像素驱动电路的输入端输入测试信号，包括：

在第一阶段，向所述数据信号端和所述扫描信号端输入高电平信号，向所述可变电压端输入第一信号；

在第二阶段，向所述数据信号端和所述扫描信号端输入高电平信号，向所述可变电压端输入第二信号。

可选地，所述第一信号的电压小于所述第二信号的电压。

可选地，所述每个像素驱动电路的输出端输出的电压为每个像素驱动电路中的数据信号端的输入信号的电压与驱动晶体管的阈值电压的差值。

可选地，所述根据每个像素驱动电路的输出端输出的电压，形成用于检测显示面板Mura现象的图像包括：

将每个像素驱动电路的输出端输出的电压转换成对应的亮度信号；

将每个像素驱动电路对应的亮度信号显示在每个像素驱动电路在显示面板相同的像素位置处，形成用于检测显示面板Mura现象的图像。

可选地，所述方法还包括：