[发明专利]用于原子荧光检测设备的入射系统及激发光源的安装支架

说明书

技术领域

本发明涉及原子荧光检测设备的光学系统，尤其涉及一种用于原子荧光检测设备的入射系统及激发光源的安装支架。

背景技术

原子荧光光谱法是通过检测气态待测元素的基态原子受光源辐射而激发出的荧光的辐射强度来定量待测分析元素含量的分析方法。该方法对待测元素有很好的灵敏度，被广泛应用于砷、锑、铋、汞、硒、碲、锡、锗、铅、锌、镉、金等数十种元素的痕量级或超痕量级分析。

现有基于原子荧光光谱法原理的检测设备主要有原子荧光光度计和形态分析仪。

公告号CN202794037U的中国实用新型专利公开了一种原子荧光光度计的光学系统。依据该专利，激发光源所发出的光经过入射光学系统后汇聚于原子化器的中心处。

公告号CN102866138A的中国发明专利公开了一种基于四象限探测器的原子荧光空心阴极灯辅助系统及方法。依据该专利，空心阴极灯发出的光线汇聚于观测点处，而观测点即原子化器的中心线和透镜光轴的交汇点。

现有仪器在激发荧光时依据的都是将激发光汇聚在含有待测元素原子的气流中心。然而待测元素原子在化学反应产生的气流中充斥于整个管路，而气流是以具有一定半径的“气柱”的形状从原子化器出口逸出的，且气柱半径随着离开原子化器出口的高度增加而增大。如果激发光汇聚在气流中心，即理想成像下汇聚成一点，则不能形成覆盖住气柱宽度的光斑，也就是说，会有一部分待测元素原子从气流经过而没有被激发光照射到。由于目前原子荧光检测设备所使用的光源的发光面均小于从原子化器出口逸出的气柱宽度，激发光在气流中心汇聚程度越高，则激发光照射到的待测元素原子越少。相应的，仪器的检出限就受到限制。此外，用于原子荧光检测设备的光源均为紫外光源，紫外光在空气中传播受空气分子影响存在能量衰减，传播距离越长，衰减越多。在现有技术的光路中，为了能让激发光更好地汇聚在气流中心，往往选择焦距较大的透镜，而这样一来就要增大光源到原子化器中心的间距，而激发光的传播距离就被拉长，相应衰减的能量就较多。

因此，为了扩大激发光的照射范围、减少因传播距离造成的激发光源能量衰减、进一步提高激发光源能量的利用率，有必要提供一种用于原子荧光检测设备的入射系统及激发光源的安装支架来解决上述问题。

发明内容

本发明需要解决的技术问题是提供一种能扩大激发光的照射范围、缩短光从激发光源到原子化器中心的间距、进一步提高激发光源能量的利用率的用于原子荧光检测设备的入射系统及激发光源的安装支架。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种用于原子荧光检测设备的入射系统。其包括依次间隔设置的激发光源、入射光传输模块及原子化器，所述激发光源与所述入射光传输模块在同一光轴上，所述入射光传输模块将所述激发光源发出的光折射形成的平行光柱投射往所述原子化器方向，且所述入射光传输模块投射的平行光柱直径大于从所述原子化器出口逸出的气柱的直径。

优选的，所述入射光传输模块包括间隔设置的正透镜和负透镜，所述正透镜位于靠近所述激发光源一侧，所述正透镜靠近所述激发光源一面的通光口径不小于所述激发光源投射于所述正透镜表面的光束截面直径，所述负透镜靠近所述原子化器一面的通光口径大于从所述原子化器出口逸出的气柱的直径。

优选的，所述正透镜靠近所述激发光源一面的通光口径大于所述激发光源投射于所述正透镜表面的光束截面直径。

优选的，所述正透镜靠近所述激发光源一面的通光口径等于所述激发光源投射于所述正透镜表面的光束截面直径。

优选的，所述入射光传输模块仅包括正透镜，所述正透镜靠近所述原子化器一面的通光口径大于从所述原子化器出口逸出的气柱的直径。

同时本发明还提供了一种安装支架，所述安装支架对应收容权利要求1至5任一项所述的激发光源，并且所述安装支架包括不同元素的激发光源的定位。

与相关技术相比，本发明的用于原子荧光检测设备的入射系统及激发光源的安装支架有益效果在于：

1、通过本原子荧光检测设备的入射系统能以更大光斑面积照射到更多待检测的元素原子，加大激发光源能量的利用率。

2、通过本入射系统能缩短光从激发光源到原子化器中心的间距，加大激发光源能量的利用率。

3、通过安装支架能快速调整不同元素的激发光源的轴向定位。

附图说明

图1为本发明用于原子荧光检测设备的入射系统一种实施方式结构示意图；

图2为本发明激发光源与安装支架结构示意图；