[发明专利]一种用于LED驱动器可靠性加速测试的温度控制方法

说明书

本发明涉及LED产品的测试技术领域，尤其涉及一种用于LED驱动器可靠性加速测试的温度控制方法，首先在保持受试LED驱动器的各个元器件的加速因子一致的条件下，得到需要局部加热的LED驱动器的元器件的温度和额外增加的温度；采用紫外光源照射需要局部加热的LED驱动器的元器件；使用红外热成像仪测量受试LED驱动器的各个元器件的表面温度；根据步骤测量结果，调整紫外光源的紫外辐射强度，直至满足温度要求。本发明在对LED驱动器进行整体加温加速老化的同时，还可以同时对多个LED驱动器的元器件进行局部加热，确保各LED驱动器的元器件的加速因子基本一致，从而提高了LED驱动器可靠性加速测试的准确性。

技术领域

本发明涉及LED产品的测试技术领域，尤其涉及一种用于LED驱动器可靠性加速测试的温度控制方法。

背景技术

LED驱动器是LED灯具可靠性的瓶颈，准确评估其可靠性是促进LED灯具推广的关键之一。LED驱动器是一个复杂的系统，内含多种电子元器件。各个元器件的失效模式迥异，极限工作温度也各不相同。传统可靠性加速测试方法通过控制驱动器整体的工作温度，实现加速老化。但统一提高工作温度会导致各个元器件的加速因子出现差异，不能准确反映其真实的可靠性状况，容易引入新的失效模式。目前，还通过缠绕电热丝加热，但是仅能加热体积较大的元器件，难以用于小型的元器件和SMD器件。

发明内容

本发明提供了一种可以对LED驱动器各个元器件进行局部加热的用于LED驱动器可靠性加速测试的温度控制方法。

为了实现本发明的目的，所采用的技术方案是：一种用于LED驱动器可靠性加速测试的温度控制方法，包括如下步骤：

步骤1：确定受试LED驱动器的BOM表，通过查找BOM表找出受试LED驱动器的各个元器件的激活能；

步骤2：通过Arrhenius公式，在保持受试LED驱动器的各个元器件的加速因子一致的条件下，得到需要局部加热的LED驱动器的元器件的温度和额外增加的温度；

步骤3：将受试LED驱动器置于保温箱内，采用红外加热器进行红外辐射提高受试LED驱动器的工作温度；

步骤4：采用紫外光源照射需要局部加热的LED驱动器的元器件；

步骤5：受试LED驱动器通电，稳定工作一段时间后，使用红外热成像仪测量受试LED驱动器的各个元器件的表面温度；

步骤6：根据步骤5的测量结果，调整紫外光源的紫外辐射强度，直至满足步骤2中的温度要求。

作为本发明的优化方案，步骤2中，Arrhenius公式为：

T_j的计算公式为：

T_j＝T_A+P_th·R_th 公式2。

其中：AF为加速因子，AF₀为基础加速因子，E_α为激活能，k为玻尔兹曼常数，T_j为结温，T_A为局部环境温度，P_th为热功率，R_th为核心到环境的热阻。

作为本发明的优化方案，紫外光源设置在保温箱的内部，紫外光源连接有控制器，控制器设置在保温箱的外部，控制器还与红外热成像仪相连，红外热成像仪将测量的受试LED驱动器的各个元器件的表面温度值传输给控制器，控制器根据步骤2中需要局部加热的LED驱动器的元器件的温度和额外增加的温度来调整调整紫外光源的紫外辐射强度。