[发明专利]一种模拟目标空间姿态的实验检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 201710899207.0 申请日: 2017-09-28
公开(公告)号: CN107806856B 公开(公告)日: 2020-01-31
发明(设计)人: 孟庆华;何昕;魏仲慧;何家维 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01C1/02 分类号: G01C1/02
代理公司: 44316 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 赵勍毅
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 模拟 目标 空间 姿态 实验 检测 装置 方法
【说明书】:

发明公开了一种模拟目标空间姿态的实验检测装置,包括:第一经纬仪、姿态检测装置、第二经纬仪、第一反射镜、十字丝分划板、升降台及转台;姿态检测装置包括平行光管、反射镜以及十字丝目标板,姿态检测装置发出左右两束方向相反的平行光;所述第一反射镜及所述十字丝分划板用于调整所述第一经纬仪及所述第二经纬仪的光轴;姿态检测装置设置于所述第一经纬仪及所述第二经纬仪之间,第一反射镜及十字丝分划板可移动地设置于第一经纬仪及第二经纬仪的光路里,姿态检测装置置于转台上,所述转台具有角度测量功能。本发明具有在实验室条件下模拟待测目标的俯仰角和偏航角的有益效果。

技术领域

本发明涉及光电测量技术领域,具体涉及一种模拟目标空间姿态的实验检测装置及方法。

背景技术

随着高精度光电经纬仪在国防和军工、航空和航天等领域的发展和应用,对光电经纬仪提出更多的测量要求,不仅要测量导弹等目标的弹道等参数,对其姿态的测量也提出了一定的要求,也受到人们越来越多的重视。

空间目标姿态测量主要是对其俯仰角、偏航角和滚动角三个姿态角测量。随着CCD和CMOS探测器和图像处理技术的发展,光学测量姿态技术也在不断发展并逐渐成熟,由于面阵CCD和CMOS探测器具有分辨率高、响应速度快和精度高等特点,因此采用在光电经纬仪中采用长焦距镜头和大面阵CCD和CMOS探测器在姿态测量中得到越来越多的应用。

目前,带有姿态测量功能的光电测量设备在出厂前一般是检测单台设备的目标投影姿态精度,无法模拟外场多台光电设备交汇的实际使用情况。因此,亟需研制一种模拟外场多台光电设备交汇测量的目标姿态精度实验室检测装置,以解决此技术问题。

发明内容

本发明旨在克服现有技术存在的缺陷,本发明采用以下技术方案:

本发明提供了一种模拟目标空间姿态的实验检测装置,包括:第一经纬仪、姿态检测装置、第二经纬仪、第一反射镜、十字丝分划板、升降台及转台;

所述姿态检测装置包括平行光管、反射镜以及十字丝目标板,所述十字丝目标板上设置有在同一直径上的第一星点孔及第二星点孔,所述姿态检测装置的反射镜将平行光管发出的光分成左右两束方向相反的平行光;

所述第一反射镜及所述十字丝分划板用于调整所述第一经纬仪及所述第二经纬仪的光轴;

所述转台,用于控制所述姿态检测装置的旋转;

所述升降台,用于控制所述姿态检测装置的升降;

所述姿态检测装置可移动地设置于所述第一经纬仪及所述第二经纬仪之间,所述第一反射镜及所述十字丝分划板可移动地设置于所述第一经纬仪及所述第二经纬仪的光路里,所述姿态检测装置设置于所述转台上,所述转台具有角度测量功能。

在一些实施例中,所述平行光管为反射式卡塞格林平行光管。

在一些实施例中,所述姿态检测装置的反射镜包括第二反射镜、第三反射镜及第四反射镜;所述第二反射镜将所述平行光管的光反射为向右或左的水平光束,所述第三反射镜及第四反射镜配合将所述平行光管的光反射为向左或右的水平光束。

一些实施例中,所述第一反射镜及所述十字丝分划板设置于同一条滑轨上,所述第一反射镜及所述十字丝分划板可沿滑轨滑入或滑出所述第一经纬仪及所述第二经纬仪的光路。

在一些实施例中,第一经纬仪及所述第二经纬仪为相同或类似的光电经纬仪。

此外,本发明还提供一种模拟目标空间姿态的实验检测方法,采用上述的模拟目标空间姿态的实验检测装置,包括以下步骤:

步骤一:将所述第一经纬仪及所述第二经纬仪调平,使所述第一经纬仪及所述第二经纬仪光轴水平;

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