[发明专利]一种硬件测试的方法、系统、装置及计算机可读存储介质

说明书

本申请公开了一种硬件测试的方法，包括：获取在预设PVT场景下测试硬件得到的实际信号质量；根据该实际信号质量对仿真工具进行最优设置得到最优仿真工具；利用最优仿真工具模拟极限PVT场景对硬件进行仿真测试，得到极限仿真信号质量；将该极限仿真信号质量作为实际信号质量的极限值。该方法通过根据预设PVT场景下的实际信号质量来对仿真工具进行最优设置，利用最优仿真工具模拟极限PVT场景对硬件进行仿真测试，来代替构建极限PVT场景进行硬件信号质量测试，能够减少硬件测试过程中所需要的测试样本，而且不需要构建极限场景。本申请同时还提供了一种硬件测试的系统、装置及计算机可读存储介质具有上述有益效果。

技术领域

本申请涉及硬件测试领域，特别涉及一种硬件测试的方法、系统、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

随着大数据时代的来临，客户对存储产品的性能和系统稳定运行的要求越来越高。而硬件系统设计的可靠性是整个系统可靠性的基础，硬件设计可靠性的提升可以有效降低软件容错机制的运行难度并明显提升代码运行效率。而影响硬件设计可靠性的主要因素是制程电压温度角(Process Voltage Temperature corner，PVT corner)的变化，为了保证硬件设计的可靠性，一般做法为在硬件测试验收阶段构建极限PVT场景进行相关的硬件信号质量测试，然而，这样会需要非常多的测试样本。同时，极限场景的构建受到各种物料资源的限制，很难做到极限场景全覆盖。

因此，如何在保证硬件设计可靠性的同时，减少硬件测试过程中所需要的测试样本是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。

发明内容

本申请的目的是提供硬件测试的方法、系统、装置及计算机可读存储介质，该方法能够在保证硬件设计可靠性的同时，减少硬件测试过程中所需要的测试样本。

为解决上述技术问题，本申请提供一种硬件测试的方法，该方法包括：

获取在预设PVT场景下测试硬件得到的实际信号质量；

根据所述实际信号质量对仿真工具进行最优设置得到最优仿真工具；

利用所述最优仿真工具模拟极限PVT场景对所述硬件进行仿真测试，得到极限仿真信号质量；其中，所述极限PVT场景的数量至少为两个；

将所述极限仿真信号质量作为所述实际信号质量的极限值。

可选的，根据所述实际信号质量对仿真工具进行最优设置得到最优仿真工具，包括：

根据各个仿真参数对应设置各个所述仿真工具；

利用各个所述仿真工具模拟所述预设PVT场景对所述硬件进行所述仿真测试，对应得到各个仿真信号质量；

选择与所述实际信号质量最接近的仿真信号质量对应的仿真工具作为所述最优仿真工具。

可选的，该方法还包括：

计算所述实际信号质量的极限值的最大差值，将所述最大差值作为保护值；

测试各个待检测硬件对应得到各个实际信号质量；

依次检测各个所述实际信号质量与所述保护值的差值是否大于预设标准值；

确认大于预设标准值的差值对应的待检测硬件为合格硬件。

本申请还提供一种硬件测试的系统，该系统包括：

获取模块，用于获取在预设PVT场景下测试硬件得到的实际信号质量；

最优设置模块，用于根据所述实际信号质量对仿真工具进行最优设置得到最优仿真工具；

仿真测试模块，用于利用所述最优仿真工具模拟极限PVT场景对所述硬件进行仿真测试，得到极限仿真信号质量；其中，所述极限PVT场景的数量至少为两个；