[发明专利]用于检测过滤器积尘的传感器及方法

权利要求书

1.一种用于检测过滤器积尘的方法，其特征在于，包括如下步骤：

提供入射光线并向过滤器表面照射；

接收所述过滤器表面反射的反射光并得到反射光功率；

利用不同的两个入射光功率的光线在所述过滤器表面的光谱反射率相等计算得出反射立体角补偿值，并通过所述反射立体角补偿值对所得到的反射光功率进行补偿，从而得到补偿后反射光功率；光谱反射率的计算公式可表示为：

公式一中，ρ为光谱反射率，Q为接收到的反射光功率，l为入射光线的功率，θ_i为入射光线的立体角，为入射光线的方位角，θ_r为反射光线的立体角，为反射光线的方位角；

根据两个不同功率的入射光线照射到过滤器表面相同位置后，得到的反射光功率不同，但相邻的两次过滤器表面的光谱反射率不变化，从而可知：

利用功率为的入射光线照射到过滤器表面，接收到的反射光所对应的反射光功率的可表示对应的光谱反射率为

利用功率为的入射光线照射到过滤器表面，接收到的反射光所对应的反射光功率的可表示对应的光谱反射率为

根据两次的光谱反射率相等，即，ρ_x1＝ρ_x2，从而能够得出反射立体角补偿值θ_rx；以及

利用所述的补偿后的反射光功率和所述入射光线的功率计算得出对应的光谱反射率，进而判断得出所述过滤器表面的积尘程度。

2.如权利要求1所述的用于检测过滤器积尘的方法，其特征在于，利用不同的两个入射光功率的光线在所述过滤器表面的光谱反射率相等计算得出反射立体角补偿值，包括：

提供另一入射光线并向所述过滤器表面照射，接收所述另一入射光线经所述过滤器表面反射的反射光并得到对应的另一反射光功率，所述另一入射光线的功率与所述入射光线的功率不同，进而通过所述另一入射光线的光谱反射率与所述入射光线的光谱反射率相等而计算得出所述反射立体角补偿值；或者

以第一发射光功率向过滤器表面照射第一光线，并接收所述过滤器表面反射的反射光得到对应的第一反射光功率；以第二发射光功率向所述过滤器表面照射第二光线，并接收所述过滤器表面反射的反射光得到对应的第二反射光功率；通过所述第一光线和所述第二光线的光谱反射率相等，进而计算得到所述反射立体角补偿值。

3.如权利要求1或2所述的用于检测过滤器积尘的方法，其特征在于，通过所述反射立体角补偿值对所得到的反射光功率进行补偿，包括：

利用所述反射立体角补偿值和反射立体角标准值的差值计算得出对应的非漫反射产生的反射光功率偏差值；

将所述反射光功率偏差值与所述反射光功率求和从而实现了对所述反射光功率进行补偿。

4.如权利要求1所述的用于检测过滤器积尘的方法，其特征在于，提供入射光线并向过滤器表面照射包括：

提供光源，利用所述光源产生设定发射光功率的入射光线并向所述过滤器表面照射；

提供准直透镜，将所述准直透镜设于所述光源的前方，使得所述光源产生的入射光线经过所述准直透镜后形成均匀的平行光线照射于所述过滤器表面。

5.如权利要求1所述的用于检测过滤器积尘的方法，其特征在于，接收所述过滤器表面反射的反射光时，包括：

提供光接收探测器，利用所述光接收探测器接收所述过滤器表面反射的反射光；

提供聚焦透镜，将所述聚焦透镜设于所述光接收探测器的前方，使得所述过滤器表面反射的反射光经过所述聚焦透镜聚集在所述光接收探测器上。