[发明专利]一种电连接器加速贮存寿命试验方法

说明书

本发明公开了一种电连接器加速贮存寿命试验方法。恒定应力加速寿命试验试验时间长，序进应力加速寿命试验试验精度不高。步骤一、确定电连接器工作寿命t_g、贮存环境温度T₀、最高试验温度T_m及截止时间τ；步骤二、确定电连接器贮存寿命P阶分位数的估计值y_p(ζ₀)的方差因子V_k的表达式。步骤三、求出V_k的最小值V_k(min)，以及V_k的最小值V_k(min)对应的T_c、k、π_p、β₀、β₁、T₁及σ。步骤四、计算电连接器试验总样本量n。步骤五及六、进行两种测试试验。步骤七、计算电连接器模型参数的估计值。步骤八、计算电连接器的贮存寿命t_R。本发明较恒定应力加速寿命试验方案可减少总试验时间，能够实现电连接器贮存寿命的快速评估。

技术领域

本发明属于电连接器寿命试验技术领域，具体涉及一种电连接器加速贮存寿命试验方法。

背景技术

对于“长期贮存、一次使用”的电连接器来说，为避免提前报废带来的资源浪费或者已经报废却仍然投入使用造成重大事故。因此评估电连接器的贮存可靠性非常有必要，而电连接器的贮存可靠性的评估大多通过加速贮存寿命试验来实现。

加速贮存寿命试验的试验应力由实际贮存环境中的环境应力和失效机理决定。电连接器贮存环境失效机理主要有温度与湿度两种应力。由于大多数电连接器，其插头和插座的结合处使用了密封圈进行压紧密封，可以阻止外界的水分进入电连接器。所以，湿度应力对贮存环境下电连接器的影响可以忽略不计。因此电连接器的试验应力仅为温度应力。由于电连接器接触件表面的镀金层虽然致密但也会存在一系列微孔或者裂纹，因此暴露在空气中的接触件基体部分就会慢慢发生氧化反应，产生的氧化膜会使得接触电阻增大，导致接触件性能退化，甚至使接触电阻因超过阈值而失效。可见，电连接器的失效机理是接触件的氧化膜层的增长。

目前，电连接器的加速贮存寿命试验方案中，恒定应力加速寿命试验理论方法成熟、统计精度高、操作方便。序进应力加速寿命试验具有试验时间短、所需样本量少的优点，但统计方法尚不成熟、试验精度不高，因此有必要找到一种结合恒定应力加速寿命试验与序进应力加速寿命试验优点的电连接器加速贮存寿命试验方案优化设计方法，进而实现电连接器贮存寿命的快速准确的评估。

发明内容

本发明的目的在于提供一种结合恒定应力加速寿命试验与序进应力加速寿命试验优点的电连接器加速贮存寿命试验方法。

本发明的具体操作步骤如下：

步骤一、根据待测电连接器的型号，确定电连接器工作寿命t_g、电连接器工作温度区间、电连接器贮存温度区间及待测电连接器的外壳材料。确定最低试验温度T₀，最低试验温度T₀在电连接器工作温度区间内。确定试验贮存温度T_z，试验贮存温度T_z在电连接器贮存温度区间内。以该外壳材料的极限工作温度作为最高试验温度T_m。确定电连接器加速寿命试验的截止时间τ：

步骤二、确定电连接器贮存寿命的P阶分位数的估计值y_p(ζ₀)的方差因子 V_k的表达式。V_k的表达式如式(1)：

V_k＝(1,0,z_P)F^-1(1,0,z_P)^T (1)；