[发明专利]一种调制度测试方法

说明书

技术领域

本发明属于通信系统调制解调技术，具体涉及一种调制度测试方法。

背景技术

调制度是已调波的一个重要参数，反映了载波的幅度、频率或相位受低频调制信号控制的程度。如果调制度太小，调制后的信号很容易失真，波形很难正弦，影响信号传输质量。

在通信系统设计过程中，对于调制度传统的测试方法如下：

1)鉴频器和脉冲鉴频器法，该方法广泛应用于直读式频偏中，测量较准确，但测试仪器、设备复杂；

2)极值法，只适用于低频调制频率；

3)贝塞尔函数零值法，测试仪器、设备简单，准确度较高，但不能对给定信号进行测试；

4)调制度分析仪测试方法：只适合测量正弦模拟调制的已调信号的调制特性。

发明内容

本发明的目的是：提供一种易于实施，满足宽频段使用，且能对给定信号进行准确测试的调制度测试方法。

本发明的技术方案是：一种调制度测试方法，通过信号发生器分别模拟输出码速率一定的全0和全1的两组未调制单音信号，再分别经受测试的调制模块调制处理后得到两组调制高频信号，用频谱分析仪观测经受测试的调制模块输出的两组调制信号频率，上述两组调制信号频率的差值为最大频率偏移量除以码速率即可得到调制度。

调制信号频率进入频谱分析仪前需经可调衰减器衰减处理。

信号发生器3与受测试的调制模块2用RS422串口线连接，受测试的调制模块2与可调衰减器4输入端通过高频馈线连接。

受测试的调制模块2将同码速率的两组未调制的单音信号进行中频调制、高频调制及载波调制处理，由于全0和全1的两组单音信号为单音信号的两种极值情况，因此所产生的高频调制信号的频率之差为调制信号的最大频率偏移量。

当所测得的调制度不满足要求时，能够通过调整调制模块2对信号的调制处理，从而改变调制信号频率，进而调整调制度；

或更换调制模块2，从而改变对信号的调制处理，获得不同的调制度。

本发明的技术效果是：本发明调制度测试方法通过信号发生器分别模拟输出全0和全1的未调制的单音信号，经受测试的调制模块进行中频调制、高频调制及载波调制处理后，用频谱分析仪观测经受测试的调制模块输出高频信号频率，测试调制模块调制度的方法，可满足宽频段使用，测试仪器、设备简单，准确度较高，且能对给定信号进行测试。本发明在通信系统研制过程对调制度进行测试，为通信系统调制解调单元的设计、调试、鉴定提供可靠的测试技术手段。

附图说明

图1是调制度测试设备连接示意图；

其中，1直流稳压电源 2受测试的调制模块 3信号发生器 4可调衰减器 5频谱分析仪。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明做进一步说明：

请参阅图1，其是本发明调制度测试设备连接示意图。所述调制度测试设备包括直流稳压电源1、受测试的调制模块2、信号发生器3、可调衰减器4、频谱分析仪5，其中，直流稳压电源1给受测试的调制模块2供电，信号发生器3与受测试的调制模块2用RS422串口线连接，受测试的调制模块2与可调衰减器4输入端通过高频馈线(频率大于1GHz)连接，可调衰减器4输出端与频谱分析仪5连接。

本发明调制度测试方法进行调制度测试时，具体过程如下：

步骤1：按图1连接调制度测试设备；

步骤2：信号发生器3向受测试的调制模块2发送受测试的调制模块2的调制信号，码速率为10kbps的全0数据。受测试的调制模块2将该调制信号进行中频调制、高频调制及载波调制处理后，经受测试的调制模块2的射频输出口输出至可调衰减器4，后送频谱分析仪5观测受测试的调制模块2的输出高频信号工作频点，并记录为f1＝2000000，单位Hz。

步骤3：信号发生器3向受测试的调制模块2发送受测试的调制模块2的调制信号，码速率为V，单位为bps的全1数据。受测试的调制模块2将该调制信号进行中频调制、高频调制及载波调制处理后，经受测试的调制模块2的射频输出口输出至可调衰减器4，后送频谱分析仪5观测受测试的调制模块2的输出高频信号工作频点，并记录为f2＝2007000，单位Hz。

步骤4：计算受测试的调制模块2的调制度a＝(f2-f1)/v＝0.7，并记录。

所测得的调制度如果不满足要求，可以通过调整调制模块2对信号的调制处理，影响调制信号的输出频率，进而改进调制度，如果通过调整调制处理仍无法得到合适的调制度。可以更换调制模块2，对信号重新进行调制处理，以获得满足要求的调制度。

另外，本发明调制度测试方式实际测试时，由于只需要测得受测试的调制模块2的调制信号频率，得到最大频率偏移量，对频段无约束，可以对受测试的调制模块2内的所有可调制频率进行调制度测试，因此可以满足宽频段使用。