[发明专利]开关电性能检测模块

说明书

技术领域

本发明涉及检测设备领域，尤其涉及一种开关电性能检测模块。

背景技术

在组合开关生产过程中，需要对组合开关进行检测，而现有组合开关检测主要是通过不同设备来进行的，这样会大大增多了操作程序，增多了检测时间，提升了劳动强度，降低了劳动效率，而且随着现有技术的发展，对检测设备的功能提出越来越高的要求。

发明内容

本发明的目的是提供一种多功能开关电性能检测模块，功能多样，能够对组合开关等产品的电性能进行检测，包括组合开关任意两脚之间短路情况、功能开关内部电阻大小检测及通断开关在恒定电流下的导通电压等检测，有效提高检测效率，降低工人劳动强度。

为了解决背景技术所存在的问题，本发明采用以下技术方案：

多功能开关电性能检测模块，包括电源模块、滤波模块、恒流源模块、恒压源模块、MCU单片机模块、电阻采集模块、电压采集模块、巡检模块、AD采集模块、RS232通信模块、采集通道选择模块，所述的MCU单片机模块与巡检模块、RS232通信模块、AD采集模块、滤波模块互连，所述的MCU单片机模块的输出端连接着恒流源模块、恒压源模块、采集通道选择模块，所述的恒流源模块的输出端与电压采集模块的输入端连接，所述的恒压源模块的输出端与电阻采集模块的输入端连接，所述的电压采集模块、电阻采集模块的输出端与采集通道选择模块的输入端连接，所述的的采集通道选择模块的输出端与AD采集模块的输入端连接，电源模块的输出端连接着滤波模块。

所述的电源模块的极性电容C47和非极性电容C40、C46与芯片U9输入端相连，并给与12V高电平，非极性电容C42、C43、C44、C45与R26、C123、C41并联，并与电感L1串联。

所述的滤波模块的熔断器F1一端与电源接线2相连，另一端与芯片U33的引脚1相接，极性电容C17、C18、C19和非极性电容C20、C21、C22与电阻R16并联，非极性电容C28、C29、C30和极性电容C23、C24、C25、C26、C27并联，二极管D13、D14、D15与电源接线1相连，另一端接地。

本发明有益效果：本发明结构简单，功能多样，能够对组合开关等产品的电性能进行检测，包括组合开关任意两脚之间短路情况、功能开关内部电阻大小检测及通断开关在恒定电流下的导通电压等检测，有效提高检测效率，降低工人劳动强度。

附图说明

图1为本发明原理示意图；

图2为本发明部分电路示意图；

图3为本发明部分电路示意图。

具体实施方式

多功能开关电性能检测模块，包括电源模块1、滤波模块2、恒流源模块3、恒压源模块4、MCU单片机模块5、电阻采集模块6、电压采集模块7、巡检模块8、AD采集模块9、RS232通信模块10、采集通道选择模块11，所述的MCU单片机模块5与巡检模块8、RS232通信模块10、AD采集模块9、滤波模块2互连，所述的MCU单片机模块5的输出端连接着恒流源模块3、恒压源模块4、采集通道选择模块11，所述的恒流源模块3的输出端与电压采集模块7的输入端连接，所述的恒压源模块4的输出端与电阻采集模块6的输入端连接，所述的电压采集模块7、电阻采集模块6的输出端与采集通道选择模块11的输入端连接，所述的的采集通道选择模块11的输出端与AD采集模块9的输入端连接，电源模块1的输出端连接着滤波模块2。

所述的电源模块的极性电容C47和非极性电容C40、C46与芯片U9输入端相连，并给与12V高电平，非极性电容C42、C43、C44、C45与R26、C123、C41并联，并与电感L1串联。

所述的滤波模块的熔断器F1一端与电源接线2相连，另一端与芯片U33的引脚1相接，极性电容C17、C18、C19和非极性电容C20、C21、C22与电阻R16并联，非极性电容C28、C29、C30和极性电容C23、C24、C25、C26、C27并联，二极管D13、D14、D15与电源接线1相连，另一端接地。