[发明专利]一种光学零件球面研磨模的车削制备方法

权利要求书

1.一种光学零件球面研磨模的车削制备方法，其特征在于，所述车削制备方法包括如下步骤：

S1、使用球面试车件进行数控车削精密对刀；

S2、对所述研磨模的工作球面进行车削精修；

S3、对所述工作球面的球面半径进行检测，并根据检测结果进行反复车削精修，直至满足要求；其中，

所述步骤S1具体包括如下步骤：

S11、Y轴对刀：测量试车件车削中心出现的圆锥或圆柱的半径，对刀具在Y轴方向的位置进行调整，直至在所述试车件车削中心观察不到圆锥或圆柱；

S12、X轴对刀：检测过所述试车件球面旋转中心的圆弧，获得面形偏差图样与对刀偏差Δx值，根据所述面形偏差图样与对刀偏差Δx值，对刀具在X轴方向的位置进行调整，直至所述试车件的面形检测图样上观察不到明显的“W”形或“M”形；其中，Δx≈8×Pv×R/D，R为球面半径，D为球面口径，Pv值为加工球面面形偏差峰谷值；

S13、刀具圆弧半径标定：测量所述试车件的球面半径，得到所述刀具圆弧半径理论值与实际值的偏差，根据所述偏差对所述刀具圆弧半径值进行修正。

2.如权利要求1所述的车削制备方法，其特征在于，所述试车件的R/D值小于待加工的所述研磨模的工作球面的R/D值。

3.如权利要求2所述的车削制备方法，其特征在于，所述试车件的R/D值为0.8。

4.如权利要求1所述的车削制备方法，其特征在于，所述步骤S3具体包括如下步骤：

S31、使用具有所述工作球面的球面半径值的A级光学样板作为半径值的检测基准；

S32、分别测量所述A级光学样板和所述工作球面的球面矢量高度，根据球面矢量高度的偏差，对刀具X轴偏差、刀具圆弧半径和加工球面半径R进行修正。

5.如权利要求4所述的车削制备方法，其特征在于，在所述工作球面的圆弧顶点、圆弧中部和圆弧边缘三个位置分别进行测量。

6.如权利要求1所述的车削制备方法，其特征在于，在所述步骤S1之前，依次进行下料、粗成形、第一次消应力退火、精成形和第二次消应力退火五个步骤。