[发明专利]一种采用断言和脚本提高统计功能覆盖率效率的方法

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路验证技术领域，具体地说是一种采用断言和脚本提高统计功能覆盖率效率的方法。

背景技术

现今集成电路规模大、逻辑和算法复杂，验证难度大，往往一个设计需要用到若干种的验证手段或验证思想才能使设计验证的相对充分，设计功能验证是否充分的判断一般依靠于功能覆盖率。在设计验证过程中，设计可能会增加或删减功能、验证的迭代以及开发新的测试用例，大的设计可能会有成百上千的测试用例，在这种情况，若人工统计功能覆盖率，则具有易出错、效率低的缺点，若纯的依靠仿真工具统计功能覆盖率，首先会占用相当大的系统资源，其次，收集所有测试用例的覆盖结果不易，在针对未覆盖的功能开发新的测试用例时，需要分析已覆盖的有哪些，测试完成后，又需要利用工具将该部分覆盖率数据融入到已有的数据库中，最后，若在迭代阶段，发生设计修改或者功能的删减，则需要耗费大量的时间进行重新统计。

发明内容

本发明的技术任务是解决现有技术的不足，考虑到现今集成电路在设计验证工作过程中使用仿真工具进行功能覆盖率统计的费时费力、不易迭代，提供一种采用断言和脚本提高统计功能覆盖率效率的方法。

本发明的技术方案是按以下方式实现的：

一种采用断言和脚本提高统计功能覆盖率效率的方法，该方法通过将功能点按规则概况后统计入一个文件中，在设计中加入断言，利用脚本的文本处理能力处理log信息，实现覆盖率数据的实时统计。

所涉及设计为FIFO设计时，采用instance绝对层次路径_当前FIFO instance_overflow概况功能点。

提高统计功能覆盖率效率的方法的实现步骤包括：

1）规则化描述功能点，统计功能点并写入文件中；

2）根据功能点描述规则，在设计加入对应功能点的断言，断言成功功能点的描述至统一的断言报告中；

3）开发同验证环境并行运行的脚本，实时监测断言报告内容是否发生变化，记录发生变化的断言报告内容，并在当前用例仿真结束时，给出覆盖率。

所涉及步骤1）中，功能点写入文件为FP.txt。

所涉及步骤2）中，功能点断言成功后打印功能点命名内容至covered.log，功能点断言失败则打印功能点命名内容至uncovered.log。

所涉及covered.log为全局共享文件，所涉及uncovered.log为本地文件。

所涉及步骤3）中，实时监测covered.log是否发生变化，记录发生变化的covered.log，并与功能点写入的FP.txt文件作比较，以实时获取覆盖率。

所涉及脚本为本地文件，用于实时监测全局共享文件的变化。

所涉及断言的加入方式是：

采用直接在设计中添加的方式，或者，采用systemverilog中bind的方式。

本发明的一种采用断言和脚本提高统计功能覆盖率效率的方法与现有技术相比所产生的有益效果是：

1）本发明通过将功能点按规则概况后统计入一个文件中，在设计中加入断言，利用脚本的文本处理能力处理log信息，实现覆盖率数据的实时统计，提高统计功能覆盖率的效率；另外，本发明还可以用于收集设计中哪些功能是不可能被验证到的，从而获得设计中不可能代发生的功能覆盖率；

2）本发明摒弃了单一手段，无需再依靠仿真工具或单纯依靠断言后由人工核对功能是否被验证来统计覆盖率。

具体实施方式

为了更好的说明本发明，现结合具体实施例对技术方案做进一步的说明。虽然实施例中记载了这些具体的实施方式，然其并非用以限定本发明，任何所述技术领域中具有通常知识者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动和润饰，故本发明的保护范围当视权利要求书所界定者为准。

本发明的一种采用断言和脚本提高统计功能覆盖率效率的方法，该方法通过将功能点按规则概况后统计入一个文件中，在设计中加入断言，利用脚本的文本处理能力处理log信息，实现覆盖率数据的实时统计。

所涉及设计为FIFO设计时，采用instance绝对层次路径_当前FIFO instance_overflow概况功能点。

提高统计功能覆盖率效率的方法的实现步骤包括：

1）规则化描述功能点，统计功能点并写入文件FP.txt中；

2）根据功能点描述规则，在设计加入对应功能点的断言，功能点断言成功后打印功能点命名内容至covered.log，功能点断言失败则打印功能点命名内容至uncovered.log；