[发明专利]顾客可更换单元监视芯片和成像设备及其方法有效

专利信息
申请号: 201710785256.1 申请日: 2013-07-18
公开(公告)号: CN107423614B 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: 李载闰;禹洪録 申请(专利权)人: 惠普发展公司;有限责任合伙企业
主分类号: G06F21/44 分类号: G06F21/44;G06F21/45;G06F21/64;G06F11/00;G06F11/10
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 王秀君
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 顾客 更换 单元 监视 芯片 成像 设备 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种成像装置,包括:

主控制器,能够控制成像装置的操作;以及

顾客可更换单元监视CRUM芯片,存储关于可消耗单元的信息,

其中,主控制器可操作来向CRUM芯片发送第一数据集和用于与CRUM芯片认证的、关于第一数据集的第一完整性检测数据,第一数据集包括第一命令数据、第一数据、第一CRC数据和第一符号数据,

其中,CRUM芯片可操作来:

响应于接收第一数据集和第一完整性检测数据,使用要被发送到主控制器的第二数据集和第一完整性检测数据二者生成第二完整性检测数据,第二数据集包括第二数据、第二结果数据、第二CRC数据、第二符号数据,并且

向主控制器发送第二数据集和第二完整性检测数据。

2.根据权利要求1所述的成像装置,

其中,主控制器可操作来:

使用第三数据集、第一完整性检测数据和第二完整性检测数据生成第三完整性检测数据,第三数据集包括第三命令数据、第三数据、第三CRC数据和第三符号数据,并且

向CRUM芯片发送第三数据集和第三完整性检测数据,

其中,CRUM芯片可操作来:

响应于接收第三数据集,使用第三完整性检测数据测试第三数据集,

响应于第三数据集的完整性被检验,使用第四数据集和第一完整性检测数据至第三完整性检测数据生成第四完整性检测数据,第四数据集包括第四数据、第四结果数据、第四CRC数据和第四符号数据,并且

向主控制器发送第四数据集和第四完整性检测数据,

其中,主控制器可操作来响应于接收第四数据集而使用第四完整性检测数据来测试第四数据集。

3.根据权利要求1所述的成像装置,其中,主控制器和CRUM芯片可操作来通过多个认证处理来执行认证,

其中,主控制器可操作来:

在多个认证处理的最终的认证处理中使用第三数据集、第一完整性检测数据和第二完整性检测数据来生成第三完整性检测数据,第三数据集包括第三命令数据、第三数据、第三CRC数据和第三符号数据,并且

向CRUM芯片发送第三数据集和第三完整性检测数据,

其中,CRUM芯片可操作来响应于接收到第三数据集和第三完整性检测数据而使用第四数据集和第一完整性检测数据至第三完整性检测数据生成第四完整性检测数据,并且向主控制器发送第四数据集和第四完整性检测数据,第四数据集包括第四数据、第四结果数据、第四CRC数据和第四符号数据。

4.根据权利要求3所述的成像装置,其中,多个认证处理包括:第一认证处理,其中主控制器和CRUM芯片可操作来发送和接收第一数据和第二数据并分别生成会话密钥;第二认证处理,用于同步存储在主控制器和CRUM芯片中的每一个中的第一表格;第三认证处理,用于同步存储在主控制器和CRUM芯片中的每一个中的第二表格;和第四认证处理,其中主控制器和CRUM芯片可操作来发送和接收第三数据和第四数据,并确定主控制器和CRUM芯片之间的兼容性。

5.一种可操作来与成像装置通信的CRUM芯片,该CRUM芯片包括:

接口单元,可操作来从成像装置的主控制器接收第一数据集和关于第一数据集的第一完整性检测数据,第一数据集包括第一命令数据、第一数据、第一CRC数据和第一符号数据;以及

控制器,可操作来使用要被发送到成像装置的主控制器的第二数据集和第一完整性检测数据二者生成第二完整性检测数据,并向成像装置的主控制器发送第二数据集和第二完整性检测数据,第二数据集包括第二数据、第二结果数据、第二CRC数据和第二符号数据。

6.根据权利要求5所述的CRUM芯片,其中,控制器可操作来响应于第一数据集的完整性被检验,向成像装置的主控制器发送第二数据集和第二完整性检测数据。

7.根据权利要求5所述的CRUM芯片,进一步包括:

存储器,用于存储第一完整性检测数据和第二完整性检测数据。

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