[发明专利]一种一维纳米材料的观测方法

说明书

本发明涉及一种碳纳米管观测方法，包括：提供一待测一维纳米材料；将所述待测一维纳米材料浸没于耦合液中；提供一第一入射光以及一第二入射光同时照射所述待测一维纳米材料，该待测一维纳米材料在所述第一入射光与所述第二入射光的照射下发生共振瑞利散射，所述第一入射光与所述第二入射光具有连续光谱且入射方向互不平行；以及利用光学显微镜观测发生共振瑞利散射的待测一维纳米材料。本发明提供的观测方法可以观测任意形态结构及排列方向的一维纳米材料，获取该一维纳米材料的位置、形态及手性信息。

技术领域

本发明涉及一种一维纳米材料的观测方法，尤其涉及一种利用光学显微镜观测一维纳米材料的方法。

背景技术

现有方法制备出一维纳米材料，例如碳纳米管，通常是由不同手性、不同管径、不同长度的混杂在一起。相互混杂的碳纳米管可以通过自身手性进行量化区分。不同手性的碳纳米管在发生共振瑞利散射时呈现出不同的色彩。武文赟等提供了一种观测纳米材料手性的方法及装置，利用碳纳米管的共振瑞利散射图像判断多根碳纳米管手性是否一致，并可以进一步计算每一根碳纳米管的手性指数。然而该方法及装置对被测纳米材料的形态结构及排列方向有一定的限制。例如，若被测碳纳米管存在弯曲或弯折，利用该方法及装置获得的图像的质量将显著下降甚至无法成像。

发明内容

有鉴于此，确有必要提供一种一维纳米材料的的观测方法，用于区分任意形态结构及排列方向的一维纳米材料。

一种一维纳米材料的观测方法，包括以下步骤：提供一待测一维纳米材料；将所述待测一维纳米材料浸没于耦合液中；提供一第一入射光以及一第二入射光同时照射所述待测一维纳米材料，该待测一维纳米材料在所述第一入射光与所述第二入射光的照射下发生共振瑞利散射，所述第一入射光与所述第二入射光具有连续光谱且入射方向互不平行；以及利用光学显微镜观测发生共振瑞利散射的待测一维纳米材料。

与现有技术相比较，本发明提供的一维纳米材料观测方法可以观测任意形态结构及排列方向的碳纳米管，获取该碳纳米管的位置、形态及手性信息。

附图说明

图1为本发明第一实施例提供的碳纳米管观测方法流程图。

图2为本发明第一实施例提供的碳纳米管观测方法原理示意图。

图3为利用本发明第一实施例提供的碳纳米管观测方法获得的碳纳米管共振瑞利散射照片。

图4为利用本发明第一实施例提供的碳纳米管观测方法获得的另一碳纳米管共振瑞利散射照片。

图5为图4中碳纳米管的共振瑞利散射光谱。

图6为图4中第3、4、5根碳纳米管的拉曼散射光谱。

图7为本发明第二实施例提供的碳纳米管观测装置结构示意图。

图8为本发明第二实施例提供的碳纳米管观测装置的模块示意图。

图9为本发明第三实施例提供的碳纳米管观测装置结构示意图。

图10为本发明第四实施例提供的碳纳米管观测装置结构示意图。

主要元件符号说明

碳纳米管观测装置 100a，100b，100c

待测碳纳米管 200

第一光源 10

第一入射光 11

第一光纤 13

第二光源 20

第二入射光 21

第二光纤 23