[发明专利]一种固态硬盘读参考电压的优化方法及装置

权利要求书

1.一种固态硬盘读参考电压的优化方法，其特征在于，包括：

根据固态硬盘中每个块的最后一页的存储数据，获得第一样本数据；其中，所述最后一页为所述块中最后写入数据的页；

利用所述第一样本数据，以固态硬盘的存储单元在数据状态的电压无偏移情况下对应的理想读参考电压为基准电压，确定固态硬盘的待优化的初始读参考电压；其中，在利用所述初始读参考电压读取第一样本数据时产生的读错误个数，不超出第一预定阈值，且低于利用所述理想读参考电压读取第一样本数据时产生的读错误个数；

根据固态硬盘中的存储数据，获得第二样本数据；

基于所述第二样本数据，对所述初始读参考电压进行优化，得到目标读参考电压；其中，在利用所述目标读参考电压读取所述第二样本数据时产生的读错误个数，低于利用所述初始读参考电压读取所述第二样本数据时所产生的读错误个数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据固态硬盘中的存储数据，获得第一样本数据，包括：

确定固态硬盘中每个块的最后一页的存储数据；

向所述最后一页的存储数据中加入扰码，使得所述最后一页的数据中0和1的比例相同，并将加入扰码后所得的所述0和1的比例相同的数据作为第一样本数据。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述利用所述第一样本数据，以固态硬盘的存储单元在数据状态的电压无偏移情况下对应的理想读参考电压为基准电压，确定固态硬盘的待优化的初始读参考电压，包括：

获得预先制定的所述固态硬盘存储单元的理想读参考电压；其中，所述理想读参考电压的个数与所述固态硬盘的存储单元能具备的数据状态的数量相对应；

采用递归方式，逐次减小各个所述理想读参考电压，和/或逐次增大各个所述理想读参考电压，直至在利用调节后所得的各个读参考电压读取所述第一样本数据时，所读取的0、1个数的比例与1的差值绝对值低于第二预定阈值时递归结束；

将递归结束时对应的各个读参考电压作为各个所述初始读参考电压。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据固态硬盘中的存储数据，获得第二样本数据，包括：

将固态硬盘中每个块的最后一页中不包含扰码的存储数据作为所述第二样本数据。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述第二样本数据，对所述初始读参考电压进行优化，得到目标读参考电压，包括：

采用递归方式，逐次减小各个所述初始读参考电压，直至在利用当次调节后所得的各个读参考电压读取所述第二样本数据时所产生的读纠错个数，大于利用前一次调节后所得的各个读参考电压读取所述第二样本数据时所产生的读纠错个数时，结束递归；

将所述前一次调节后所得的各个读参考电压作为所述目标读参考电压。

6.一种固态硬盘读参考电压的优化装置，其特征在于，包括：

第一获取单元，用于根据固态硬盘中每个块的最后一页的存储数据，获得第一样本数据；其中，所述最后一页为所述块中最后写入数据的页；

确定单元，用于利用所述第一样本数据，以固态硬盘的存储单元在数据状态的电压无偏移情况下对应的理想读参考电压为基准电压，确定固态硬盘的待优化的初始读参考电压；其中，在利用所述初始读参考电压读取第一样本数据时产生的读错误个数，不超出第一预定阈值，且低于利用所述理想读参考电压读取第一样本数据时产生的读错误个数；

第二获取单元，用于根据固态硬盘中的存储数据，获得第二样本数据；

优化单元，用于基于所述第二样本数据，对所述初始读参考电压进行优化，得到目标读参考电压；其中，在利用所述目标读参考电压读取所述第二样本数据时产生的读错误个数，低于利用所述初始读参考电压读取所述第二样本数据时所产生的读错误个数。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一获取单元，具体用于：

确定固态硬盘中每个块的最后一页的存储数据；向所述最后一页的存储数据中加入扰码，使得所述最后一页的数据中0和1的比例相同，并将加入扰码后所得的所述0和1的比例相同的数据作为第一样本数据。