[发明专利]一种评估信号链路损耗的方法

说明书

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，具体的说是一种评估信号链路损耗的方法。

背景技术

高速硬盘背板的通信解决方案，是运用PCIe、SAS以及SATA总线进行通信，在实际的应用中，为了考虑使用成本和通信质量，需要对信号链路的插损进行准确的判断，所谓的插损(英文Insertion Loss，简称IL)，是指信号从主板端经过信号接口、信号线缆以及硬盘背板接口的具体插入损耗。

目前，为验证信号质量，运用PCIe测试冶具、SAS或SATA测试冶具将信号从硬盘背板中精确引出，结合示波器以及测试软件得到信号眼图，最后，通过眼图判断信号通过由线缆以及若干接口的复杂链路后，信号是否依然符合SPEC。

在上述的验证过程中，虽然可以得到完整链路信号质量情况，但是，不知道完整链路信号的具体插损。

发明内容

为了解决上述问题，提供了一种评估信号链路损耗的方法，利用现有成熟的测试技术和方法来间接测试信号链路或者线缆的插损。

本发明实施例提供了一种评估信号链路损耗的方法，所述的方法包括：

S1：准备待测试的链路单元以及测试工具；

S2：分别测量主板端的输出幅度Ai和测试背板端的输出幅度Ao；

S3：利用公式IL＝-20log A_o/A_i计算链路插损值，其中，IL为插损值。

进一步的，所述的步骤S1中，待测试的链路单元以及测试工具包括：服务器主板、转接卡、信号线缆、高速硬盘背板、示波器、信号测试冶具。

进一步的，步骤S2的具体实现过程为：

S21：将主板、转接卡、信号测试冶具以及示波器连接成完整信号回路，开机测试眼图并计算出主板端的输出幅度Ai；

S22：将主板、信号线缆、高速硬盘背板、信号测试冶具以及示波器在同一信号链路上连接成完整信号回路，开机测试眼图并计算出测试背板端的输出幅度Ao。

进一步的，所述的步骤S2还包括：

S23：重复步骤S21，获得多个Ai值，计算多个Ai值的平均值；

S24：重复步骤S22，获得多个Ao值，计算多个Ao值的平均值。

进一步的，所述的步骤S2中，测试眼图并计算幅度的具体步骤为：测量同一信号在同一速率下的两幅眼图，并从两个眼图中分别提取幅度参数，然后分别对同一眼图中提取到的参数取绝对值做加法运算，得到两个和值，最后将两个和值做平均值运算，得到幅度值。

发明内容中提供的效果仅仅是实施例的效果，而不是发明所有的全部效果，上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果：

1、本方案利用成熟的信号眼图测试方法，在不增加新测试仪器、测试冶具的情况下，就可进行主板外接电路完整信号链路插入损耗测试，或者信号线缆插入损耗测试，满足服务器产品在设计验证阶段的需求，大大提升了产品质量。

2、本方案对于数值都是经过多次测量，避免了单次测量容易产生误差的问题，大大提高了测量结果的准确性。

附图说明

图1是本发明一种实施例的方法流程图；

图2是PCIe信号一个速率下一幅眼图的示意图；

图3是图2同一个速率下另一幅眼图的示意图；

图4是从图2、图3中提取的PCIe Gen3幅度参数；

图5是本发明另一种实施例的方法流程图。

具体实施方式

为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本发明进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本发明省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本发明。

实施例1

如图1所示一种评估信号链路损耗的方法，所述的方法包括以下步骤：

S1：准备待测试的链路单元以及测试工具，由于本申请利用眼图测试原理来实现，因此，待测试的链路单元包括服务器主板、转接卡、信号线缆、高速硬盘背板，测试工具包括示波器、信号测试冶具。

S2：分别测量主板端的输出幅度Ai和测试背板端的输出幅度Ao，具体实现过程为：