[发明专利]基于光谱共焦技术的手机曲面外壳轮廓测量方法及其测量设备在审

专利信息
申请号: 201710745679.0 申请日: 2017-08-26
公开(公告)号: CN107621235A 公开(公告)日: 2018-01-23
发明(设计)人: 张庆祥;唐小琦 申请(专利权)人: 东莞市三姆森光电科技有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 深圳市金笔知识产权代理事务所(特殊普通合伙)44297 代理人: 胡清方,彭友华
地址: 523841 广东省东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 基于 光谱 技术 手机 曲面 外壳 轮廓 测量方法 及其 测量 设备
【权利要求书】:

1.一种基于光谱共焦技术的手机曲面外壳轮廓测量方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1:将标准手机外壳固定在侧角滑台上;

S2:将标准手机外壳轮廓数据分为背壳,左侧边与右侧边三部分数据,通过调整侧角滑台角度,保证这三个部分的轮廓信息可以被光谱量仪接收;记录测量背壳,左侧边与右侧边时的侧角滑台角度值分别为α1,α2,α3;设置并记录光谱量仪的沿y轴方向的移动速度vy

S3:采用工业相机视觉定位方法建立标定标准手机外壳位置坐标系;根据S2步记录的侧角滑台角度值调整侧角滑台,分别标定标准手机外壳三部分截面曲线的高度数据;根据标定标准手机外壳上的标志点记录拼接位置;

S4:将光谱量仪的光学笔与测量点之间的距离转换成标准手机外壳轮廓截面的曲线垂直高度;

所述垂直高度的转换公式为

d1=dcosα]]>

其中d为光谱量仪的光学笔与标定测量点之间的距离,α为侧角滑台角度值,在测量背壳,左侧边和右侧边数据时,α分别等于α1,α2,α3;d1为光谱量仪的光学笔与测量点连线的曲线垂直高度;

S5:取下标准手机外壳,将待检测手机外壳固定在侧角滑台上,采用视觉定位方法建立待检测手机位置坐标系;

S6:采用与标定标准手机外壳时相同的侧角滑台角度值和光谱量仪移动速度;测量待检测手机外壳三部分截面曲线的高度数据;

S7:根据标准手机数据计算待检测手机外壳轮廓截面的曲线垂直高度;获得沿垂直方向均匀分布的高度数据,根据标志点位置与侧角滑台角度值对待检测手机侧边截面曲线数据进行拟合后插值,将采集到的侧边曲线数据进行拼接获得完整的待检测手机外壳的截面曲线。

2.根据权利要求1所述的一种基于光谱共焦技术的手机曲面外壳轮廓测量方法,其特征在于,所述计算待检测手机外壳侧边截面曲线垂直高度时,按如下公式转换:

h=d1(1-d′d)-(d1sinα+dy-d′d1dsinα)sinαdy=vyt]]>

其中,d'为光谱量仪的光学笔与待测手机外壳测量点之间的距离,t表示从坐标原点出发光谱量仪沿y轴移动的时间;dy为光谱量仪的光学笔沿y轴的移动距离,h为待测手机外壳测量点相对于标定测量点的相对垂直距离。

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