[发明专利]开放式荧光检测方法及设备在审
申请号: | 201710736644.0 | 申请日: | 2017-08-24 |
公开(公告)号: | CN107478626A | 公开(公告)日: | 2017-12-15 |
发明(设计)人: | 吴立群 | 申请(专利权)人: | 北京为肯科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100085 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 开放式 荧光 检测 方法 设备 | ||
1.一种开放式的荧光检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
发射激发光照射被测发光物;
连续拍摄所述被测发光物获取拍摄数据;
根据所述拍摄数据消除环境光,获取所述被测发光物发出的发射光。
2.根据权利要求1所述的开放式的荧光检测方法,其特征在于,所述摄像数据为图片数据;将拍摄的图片数据进行比对,消除环境光,获取所述被测发光物发出的发射光。
3.根据权利要求1所述的开放式的荧光检测设备,其特征在于,所述摄像数据为视频数据;根据所述视频数据,消除环境光,获取所述被测发光物发出的发射光。
4.根据权利要求3所述的开放式的荧光检测方法,其特征在于,通过高帧率相机获取所述视频数据。
5.根据权利要求1所述的开放式的荧光检测方法,其特征在于,还包括过滤激发光的步骤。
6.根据权利要求1所述的开放式的荧光检测设备,其特征在于,根据所述拍摄数据消除环境光步骤前还包括,过滤所述被测发光物发出的发射光的步骤。
7.一种开放式的荧光检测设备,其特征在于,包括:
激发装置,用于发射激发光,所述激发装置发射的激发光照射于被测发光物;
摄像装置,用于连续拍摄所述被测发光物;
控制装置,连接所述激发装置和所述摄像装置,用于控制所述激发装置发射激发光,控制所述摄像装置拍摄所述被测发光物;
图像处理装置,所述控制装置控制所述图像处理装置根据所述摄像装置连续拍摄的摄像数据消除环境光,获取所述被测发光物发出的发射光。
8.根据权利要求7所述的开放式的荧光检测设备,其特征在于,所述摄像数据为图片数据,所述控制装置控制所述摄像装置在无激发光状态拍摄所述被测发光物获取第一图片,以及在有激发光状态下拍摄所述被测发光物获取第二 图片;所述图像处理装置将所述第一图片和所述第二图片进行比对,消除环境光,获取所述被测发光物发出的发射光;并且/或者。
9.根据权利要求7所述的开放式的荧光检测设备,其特征在于,所述摄像数据为视频数据,所述控制装置控制所述摄像装置连续拍摄所述被测发光物获取视频数据,所述图像处理装置根据所述视频数据,消除环境光,获取所述被测发光物发出的发射光。
10.根据权利要求7所述的开放式的荧光检测设备,其特征在于,所述激发装置为光源;并且/或者所述摄像装置为高帧率相机。
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