[发明专利]一种物联网测试仪器在审
申请号: | 201710689114.5 | 申请日: | 2017-08-13 |
公开(公告)号: | CN107426057A | 公开(公告)日: | 2017-12-01 |
发明(设计)人: | 高飞 | 申请(专利权)人: | 高飞 |
主分类号: | H04L12/26 | 分类号: | H04L12/26;H04L29/08 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 250000 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 联网 测试 仪器 | ||
技术领域
本发明涉及物联网技术领域,尤其涉及一种物联网测试仪器。
背景技术
物联网是新一代信息技术的重要组成部分。第一,物联网的核心和基础仍然是互联网,是在互联网基础上的延伸和扩展的网络;第二,其用户端延伸和扩展到了任何物品与物品之间,进行信息交换和通信。
在物联网的网络结构中,包括四个层次:
最底层是传感器网络层,即以传感器、RFID以及各种手机、PDA等机器终端为主,完成对底层信息的全面感知和采集功能。第二层是传输网络层,即通过现有的互联网、广电网络、无线通信网等网络,实现数据的汇聚和传输功能。第三层是中间件层,即通过构建中间件来屏蔽各类传输网络的差异性,为上层应用提供统一的数据调用接口,同时对传输网络层汇聚上来的信息进行理解、推理和决策。最上层是应用和服务层,即通过对调用数据的处理和解决方案来管理和控制手机、PC等终端设备,实现人们所需要的应用服务,或者与行业专业技术深度融合,与行业需求结合,实现行业智能化。
目前的物联网测试仪器精确度只能达到mV数量级。然而随着半导体技术的发展,有些对测试时精确度的要求已经达到了更高的要求了。
发明内容
本发明为了克服现有技术中的不足,提供了一种物联网测试仪器。
本发明是通过以下技术方案实现:
一种物联网测试仪器,包括测试仪器本体,该测试仪器本体包括主箱体、位于主箱体前端的显示屏区、位于所述主箱体前端的第一按钮区、位于所述主箱体前端的第二按钮区,所述第一按钮区位于所述显示屏区的左侧,所述第二按钮区位于所述显示屏区的右侧,在所述显示屏区包括显示屏体、位于所述显示屏体下方的系统按键、设定按键、增按键、减按键以及清除按键;所述第一按钮区上设置有开关按键、调节按键A以及调节按键B;所述第二按钮区上设置有测试指示灯、合格指示灯以及报警指示灯,并在所述第二按钮区上设置有第一按钮、第二按钮、第三按钮以及第四按钮;在所述主箱体内设置有测试系统。
进一步地,所述系统按键位于所述设定按键的左侧,所述设定按键位于所述增按键的左侧,所述增按键位于所述减按键的左侧,所述减按键位于所述清除按键的左侧。
进一步地,所述开关按键位于所述调节按键A的下方,所述调节按键A位于所述调节按键B的下方。
进一步地,所述测试指示灯位于所述合格指示灯的左侧,所述合格指示灯位于所述报警指示灯的左侧。
进一步地,在所述底部主箱体的底部安装有四个支撑垫块,且每个支撑垫块的截面均为梯形。
进一步地,所述显示屏体为LCD显示屏。
进一步地,所述测试系统包括数据处理装置、电阻测试仪以及电压测量模块,数据处理装置 与集成电路测试仪、电压测量模块连接,电阻测试仪和电压测量模块对待测器件进行测试。数据处理装置对集成电路测试仪下达施加测试条件指令,为待测器件施加测试条件(一定的电压、电流、继电器控制等)。数据处理装置还用于对集成电路测试仪和电压测量模块下达开始测试指令,令集成电路测试仪测量待测器件的电流、频率以及精确度要求不高的电压等参数;令电压测量模块测量待测器件的高精确度要求的电压。集成电路测试仪与待测器件连接,接收数据处理装置的施加测试条件指令,为待测器件施加测试条件;以及开始测试指令,测量待测器件的电流、频率以及精确度要求不高的电压等参数,并将测试结果返回数据处理装置。
与现有的技术相比,本发明的有益效果是:本发明通过设置有显示屏体,便于对测试后的参数进行显示,通过设置有各种按键,便于进行操作,通过设置有测试系统,便于进行测试,通过设置有指示灯,便于根据不同的情况进行指示,且测试时的精度高。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
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