[发明专利]受电装置、送电装置及送电系统

说明书

本公开涉及受电装置、送电装置及送电系统，其中，提供了一种受电装置，包括：谐振电路，包括电耦合到谐振电容器的受电线圈；存储器，被配置为存储预先确定的参考Q值；以及控制电路，被配置为控制关于电池的充电操作，并且控制负载调制电路与送电装置通信，其中，当在所述受电装置和所述送电装置之间不存在异物时，测量所述预先确定的参考Q值。

本申请是申请日为2013年4月28日、申请号为201310156684.X、发明名称为“检测装置、受电装置、送电装置及非接触供电系统”的专利申请的分案申请，其全部内容结合于此作为参考。

技术领域

本公开涉及一种与另一磁耦合元件、异物等磁耦合的磁耦合元件、使用该磁耦合元件的装置(磁耦合装置)和系统(磁耦合系统)。

具体地，本公开涉及一种检测由非接触供电装置与构成非接触供电系统的电子装置之间的磁通量加热的异物(诸如金属、磁性材料和磁体)的混合物的检测装置、一种受电装置、送电装置和非接触供电系统。

背景技术

近年来，例如，以非接触方式对诸如手机和便携式音乐播放器的消费性电子(CE)装置(供消费者使用的电子装置)进行供电(送电)的供电系统(被称为非接触供电系统或非接触送电系统)已引发大量关注。相应地，可通过简单将电子装置(次级装置)放置于充电托盘(初级侧装置)上而代替将诸如AC适配器的供电装置的连接器插接(连接)至CE装置来开始充电。因此，电子装置与充电托盘之间不需要终端连接。

以此方式，作为一种以非接触方式提供电力的方法，电磁感应法已众所周知。另外，近年来，采用被称为利用谐振现象的磁场共振法的方法的非接触供电系统也已引起关注。

利用磁场共振法的非接触供电系统具有的优点在于，与电磁感应法相比可在进一步远离彼此而定位的装置之间传送电力。另外，即使供电源(送电线圈)与供电目标(受电线圈)之间的对齐不太良好，也仍具有传送效率(供电效率)不会降低太多的优点。然而，不变的是，磁场共振法和电磁感应法中的任何一种均采用利用供电源(送电线圈；磁耦合元件)与供电目标(受电线圈；磁耦合系统)之间的磁耦合的非接触供电系统(磁耦合系统)。

顺便地，非接触供电系统中的重要因素之一是防止因磁通量而发热的诸如金属、磁性材料和磁体等的异物的发热的对策。当在不限于磁感应法或磁场共振法的情况下以非接触方式供电时，若在送电线圈与受电线圈之间的间隙中混入异物，则有该异物可能会因经过异物的磁通量而发热的可能性。另外，异物发热是由金属异物中通过磁通量产生的电流(涡电流、环电流、圆电流)以及磁性材料异物或磁体异物中因通过异物、磁性材料异物或磁体异物的磁通量而出现的磁损耗(磁滞损耗)造成的。

作为防止发热的对策，已提出了多种方法，这些方法通过向非接触供电系统增设异物检测系统来检测异物。例如，已知一种使用光学传感器或温度传感器的方法。然而，使用传感器的方法在供电范围较广的情况下与磁场共振方法一样会导致成本增加。另外，例如，根据温度传感器，由于温度传感器上的输出结果取决于传感器周围的热导率，所以送电侧和受电侧的装置也受到设计约束。

因此，通过在金属异物进入送电侧与受电侧之间时关注参数(电流、电压等)的变化，已提出了一种确定是否存在异物的方法。根据该方法，由于没有理由施加任何设计约束等，所以可以降低成本。

例如，日本待审查专利申请公开第2008-206231号公开了一种在送电层与受电侧之间进行通信期间利用调制度(振幅变化和相位变化)来检测金属异物的方法，且日本待审查专利申请公开第2001-275280号公开了一种利用涡电流损耗检测金属异物(利用DC-DC效率检测异物)的方法。