[发明专利]显示面板的检测方法及装置

说明书

本发明公开了一种显示面板的检测方法及装置，属于显示技术领域。该方法包括：向数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第一数据信号、第一栅线扫描信号和电源信号；测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第一电压；根据第一电压确定出现故障的数据线；向数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第二数据信号、第二栅线扫描信号和电源信号；测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第二电压；根据第二电压确定出现故障的栅线；根据出现故障的栅线和出现故障的数据线，确定显示面板中出现不良点的位置。本发明通过故障的数据线和故障的栅线，确定显示面板中出现不良点的位置，提高了显示面板的产品良率。本发明用于检测显示面板。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种显示面板的检测方法及装置。

背景技术

随着显示技术领域的发展，各种具有显示功能的产品出现在日常生活中，例如手机、平板电脑、电视机、笔记本电脑、数码相框、导航仪等，这些产品都无一例外的需要装配显示面板。

目前，有源矩阵有机发光二极体(英文：Active-matrix organic light emittingdiode；简称：AMOLED)显示面板是市面上新型的显示面板，该AMOLED显示面板可以包括：多条数据线和多条栅线，每相邻的两根数据线和每相邻的两根栅线围成一个像素单元，每个像素单元对应一个驱动电路，该驱动电路用于驱动其对应的像素单元发光。由于生成该多条数据线和多条栅线时工艺难度较大，导致该栅线和数据线可能会出现短路或断路等诸多不良的现象，进而导致生产出的AMOLED显示面板出现产品不良，为了提高AMOLED显示面板的产品良率，需要对AMOLED显示面板进行检测。

但是，目前AMOLED显示面板进行检测时，仅能够检出数据线不良，无法检测出栅线不良，由于无法定位出AMOLED显示面板中不良点的位置，最终导致无法对不良点所对应的栅线和数据线进行维修，因此，AMOLED显示面板的产品良率较低。

发明内容

为了解决现有技术的AMOLED显示面板的产品良率较低的问题，本发明实施例提供了一种显示面板的检测方法及装置。所述技术方案如下：

第一方面，提供了一种显示面板的检测方法，所述显示面板中包括：多条数据线和多条栅线，所述多条数据线和所述多条栅线交叉围成多个像素单元，每个像素单元包括驱动电路和像素电极，每个像素单元的驱动电路分别与数据输入端、栅极扫描输入端和电源端连接，所述方法包括：

向所述数据输入端、所述栅极扫描输入端和所述电源端分别输入第一数据信号、第一栅线扫描信号和电源信号，在信号输入过程中，所述第一栅线扫描信号为第一电平，所述第一数据信号的电平由第一电平跳变至第二电平，所述电源信号由第一电平跳变至第二电平，并且所述第一数据信号的电平在所述电源信号的电平跳变之前跳变；

测量所述显示面板中每个像素单元中像素电极的第一电压；

根据所述第一电压确定出现故障的数据线；

向所述数据输入端、所述栅极扫描输入端和所述电源端分别输入第二数据信号、第二栅线扫描信号和所述电源信号，在信号输入过程中，所述第二数据信号为第一电平，所述第二栅线扫描信号由第一电平跳变至第二电平，所述电源信号由第一电平跳变至第二电平，并且所述第二栅线扫描信号的电平在所述电源信号的电平跳变之前跳变；

测量所述显示面板中每个像素单元中像素电极的第二电压；

根据所述第二电压确定出现故障的栅线；

根据所述出现故障的栅线和所述出现故障的数据线，确定所述显示面板中出现不良点的位置。

可选的，所述根据所述第一电压确定出现故障的数据线，包括：

判断每个像素单元中像素电极的第一电压是否处于第一预设电压范围内；