[发明专利]监测复合结构上的热事件和冲击事件的可移除色差观察组件、系统和方法

权利要求书

1.一种用于监测复合结构的表面上的热事件和冲击事件的可移除色差观察组件，所述可移除色差观察组件包括：

多个色差观察几何配置，其在布置中单独耦接到聚合物膜层的一个或多个部分，每个色差观察几何配置包括结合到粘合剂材料中的相同类型的多个色差探针，并且所述多个色差观察器几何配置中的至少两个具有不同类型的色差探针，所述不同类型的色差探针针对所述复合结构的所述表面上的热事件和冲击事件中的一种具有不同的感测能力，

其中所述聚合物膜层和所述多个色差观察几何配置以可移除色差观察附饰物的形式形成所述可移除色差观察组件，所述可移除色差观察附饰物被配置为直接且连续地可移除地施加到所述复合结构的所述表面，并且被配置为监测所述复合结构的所述表面上的所述热事件和所述冲击事件。

2.根据权利要求1所述的可移除色差观察组件，其还包括背衬膜层和压敏粘合剂层即PSA层，所述背衬膜层耦接到所述多个色差观察几何配置，并且所述压敏粘合剂层即PSA层耦接到所述背衬膜层。

3.根据权利要求1或2所述的可移除色差观察组件，其中所述聚合物膜层是透明的，并且包括在约130°F(一百三十华氏度)至约500°F(五百华氏度)之间的温度范围内是稳定的高温聚合物膜层。

4.根据权利要求1或2所述的可移除色差观察组件，其中所述多个色差观察几何配置在相邻的重复布置中单独耦接到所述聚合物膜层的所述一个或多个部分，并且进一步，其中每个色差观察几何配置具有包括矩形条和方形配置中的一个的几何配置。

5.根据权利要求1或2所述的可移除色差观察组件，其中所述多个色差探针包括热致变色探针和力学变色探针中的一个。

6.根据权利要求1或2所述的可移除色差观察组件，其中所述可移除色差观察附饰物是多感测附饰物，所述多感测附饰物被配置为跨越将所述可移除色差观察附饰物施加在其上的所述复合结构的所述表面进行热测试测量和冲击测试测量，并且其中在测试所述复合结构之后，移除所述可移除色差观察附饰物以进行分析。

7.一种使用可移除色差观察系统来监测复合结构表面上的热事件和冲击事件的方法，所述方法包括以下步骤：

提供所述可移除色差观察系统，其包括：

所述复合结构，其具有针对热事件和冲击事件中的一种待测试和监测所述表面；

可移除色差观察组件，其包括具有多个色差观察几何配置的可移除色差观察附饰物，所述多个色差观察几何配置在布置中单独耦接到聚合物膜层的一个或多个部分，每个色差观察几何配置包括结合到粘合剂材料中的相同类型的多个色差探针，并且所述多个色差观察器几何配置中的至少两个具有不同类型的色差探针，所述不同类型的色差探针具有用于感测所述复合结构的所述表面上的所述热事件和所述冲击事件中的一种的不同的感测能力；

光源；

成像装置；以及

数据处理器系统；

直接地且连续地将所述可移除色差观察附饰物施加在待测试和监测的所述复合结构的所述表面上；

通过将具有施加的可移除色差观察附饰物的所述复合结构暴露于一个或多个温度和一个或多个冲击中的一者达预定义的时间段来用所述施加的可移除色差观察附饰物测试所述复合结构；

用所述光源对所述可移除色差观察附饰物进行照明，以响应于所述光源激活所述不同类型的色差探针在不同的预定义时间-温度范围内发荧光；

用所述成像装置获得所述不同类型的色差探针对所述光源的色差响应的一个或多个图像，所述色差响应包括一个或多个颜色变化和一个或多个强度变化；以及

使用所述数据处理器系统基于所述色差响应来识别所述复合结构的所述表面上已经经受了高于预定义的阈值温度的温度和高于预定义的阈值冲击的冲击中的一个的区域。

8.根据权利要求7所述的方法，其还包括在用所述施加的可移除色差观察附饰物测试所述复合结构之后，以及在用所述光源进行照明之前，从所述复合结构移除所述色差观察附饰物的步骤。

9.根据权利要求7或8所述的方法，其中提供所述可移除色差观察系统包括提供具有背衬膜层和压敏粘合剂层即PSA层的所述可移除色差观察附饰物，所述背衬膜层耦接到所述多个色差观察几何配置，并且所述压敏粘合剂层级PSA层耦接到所述背衬膜层。