[发明专利]一种掉电测试方法及装置

说明书

本发明的主要目的在于提供一种掉电测试方法及装置，以解决相关技术中智能卡掉电测试效率降低的问题。该方法包括：将掉电读写器的最小掉电时间间隔设置为一初始值，该初始值小于4us；通过设置后的掉电读写器对智能卡进行掉电测试，本申请提高了掉电测试的效率。

技术领域

本发明涉及智能卡领域，尤其涉及一种掉电测试方法及装置。

背景技术

众所周知，金融芯片卡与磁条卡相比存在诸多优势，如安全性高，寿命长，不会被消磁，可支持多个应用以及支付功能便捷等。但芯片卡在写EEPROM(ElectricallyErasable Programmable Read-Only Memory，电可擦可编程只读存储器)或者Flash过程中掉电会造成芯片内数据错误，导致芯片卡不可用或者关键数据错误，例如，卡内金额错误的问题。为了避免出现该问题，会在芯片卡的程序中加入掉电保护机制，通过掉电读写器验证掉电保护机制的实现是否成功。由于芯片制造工艺的升级，存储器的性能越来越快，擦写时间也越来越短，已经由原来的15us缩短到现在的5us左右。要模拟用户在使用过程中突然拔卡或将卡移开，掉电读写器的的掉电时间间隔则需要更加准确。

在产品测试过程中存在如下问题，在使用掉电间隔为10us的掉电读写器测试时，某些问题不能复现或者不能稳定复现，由于在芯片卡大量使用过程中的掉电时机是不可控的，当使用10us的掉电读写器进行测试时，测试结果是不准确的。对于一些特殊指令写EEPROM或者Flash时间较长，能达到700ms甚至更长，使用40us掉电读写器测试，需要大约1.8万次才能遍历所有掉电点，测试时间40小时(测试中需要执行其它指令验证掉电保护机制功能)。可见，掉电读写器的测试时间间隔并不能适用于不同场景下的掉电测试，在一些场景下可能会导致测试效率较低的问题出现。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种掉电测试方法及装置，以解决相关技术中智能卡掉电测试效率降低的问题。

本发明提供了一种掉电测试方法，包括：将掉电读写器的最小掉电时间间隔设置为一初始值，所述初始值小于4us；通过所述掉电读写器对智能卡进行掉电测试。

可选的，所述通过所述掉电读写器对智能卡进行掉电测试，包括：通过所述掉电读写器对使用非接触界面时的所述智能卡，和/或使用接触界面时的所述智能卡进行掉电测试。

可选的，所述初始值为1us。

可选的，所述方法还包括：在将掉电读写器的最小掉电时间间隔设置为一初始值之后，接收外部指令，根据所述外部指令中指示的目标正整数，将所述掉电读写器的最小掉电时间间隔更改为所述初始值的目标正整数倍。

可选的，所述通过所述掉电读写器对智能卡进行掉电测试，包括：在所述掉电测试的过程中，在对预设种类的指令进行测试时，减小所述掉电读写器的最小掉电时间间隔。

本发明还提供了一种掉电测试装置，包括：设置模块，用于将掉电读写器的最小掉电时间间隔设置为一初始值，所述初始值小于4us；测试模块，用于通过所述掉电读写器对智能卡进行掉电测试。

可选的，所述测试模块用于：通过所述掉电读写器对使用非接触界面时的所述智能卡，和/或使用接触界面时的所述智能卡进行掉电测试。

可选的，所述初始值为1us。

可选的，所述装置还包括：更改模块，用于在将掉电读写器的最小掉电时间间隔设置为一初始值之后，接收外部指令，根据所述外部指令中指示的目标正整数，将所述掉电读写器的最小掉电时间间隔更改为所述初始值的目标正整数倍。

可选的，所述测试模块用于：在所述掉电测试的过程中，在对预设种类的指令进行测试时，减小所述掉电读写器的最小掉电时间间隔。

本发明实施例提供的掉电测试方法，提高了掉电读写器的最小掉电时间间隔的精度，提高了掉电测试的效率。