[发明专利]一种检测电源抗干扰能力的方法及设备

说明书

技术领域

本发明涉及电路技术领域，特别是涉及一种检测电源抗干扰能力的方法及设备。

背景技术

在高端服务器领域，板卡种类繁多。如计算板卡、交换机板卡、IO板卡、监控管理板卡、风扇控制板卡，这些板卡之间的连接及供电都是通过背板完成。

各个板卡的供电方式是直流电通过背板到达各个板卡，也就是说所有板卡共享同一直流电源。基于高可用性目的，这些板卡模块通常设计成具有热插拔特性以便在板卡模块出现故障时能灵活更换。

基于上述这种架构设计，正是由于板卡具有热插拔特性，板卡在热插入情形下可能会给临近已经处于工作状态的其它板卡带来电源上的干扰。

因此，亟需一种检测电源抗干扰能力的方法，能够检测电源的抗干扰能力。

发明内容

本发明实施例中提供了一种检测电源抗干扰能力的方法，所述电源电路包括输入直流电源、侦测电阻、等效串联电阻ESR、输出电容，本申请提供的方法能够检测电源的抗干扰能力。

第一方面，提供一种检测电源抗干扰能力的方法，包括：获取所述电源电路的电路参数，其中，所述电路参数包括下列中的至少一项：所述输出电容的初始电压U0，所述等效串联电阻的电阻值ESR，所述侦测电阻的电阻值R1；根据所述电路参数，确定所述侦测电阻两端的电压差变化趋势，其中，所述侦测电阻两端的电压差越大，所述电源抗干扰能力越强。

结合第一方面，在第一方面的第一种可能的实现方式中，所述根据所述电路参数，获取所述电源电路的电路参数，包括：在所述输出电容放电过程中，获取所述电源电路的电路参数；确定所述侦测电阻两端的电压差趋势，包括：根据下列公式，确定所述输出电容放电过程中，所述侦测电阻第一端电压的电压值Vsense-随时间变化的曲线，

其中，为所述输出电容的初始电压，C为所述输出电容的电容大小；

根据所述Vsense-随时间变化的曲线，确定所述侦测电阻在t时刻的两端的电压差变化趋势，其中，在t时刻，所述ESR值越大，所述侦测电阻两端的电压差越小。

结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第二种可能的实现方式中，所述根据所述电路参数，获取所述电源电路的电路参数包括：在所述输出电容充电过程中，获取所述电源电路的电路参数；确定所述侦测电阻两端的电压差，包括：根据下列公式，计算所述输出电容充电过程中，所述侦测电阻低电压端的电压值Vsense-，

其中，为所述输出电容的充电电压，C为所述输出电容的电容大小；根据所述Vsense-随时间变化的曲线，确定所述侦测电阻在t时刻的两端的电压差变化趋势，其中，在t时刻，所述ESR值越大，所述侦测电阻两端的电压差越小。

结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第三种可能的实现方式中，所述电源用于为服务器背板供电。

第二方面，提供一种设备，所示设备用于检测电源电路的抗干扰能力，所述电源电路包括输入直流电源、侦测电阻、等效串联电阻ESR、输出电容，所示设备包括：获取单元，所述获取单元用于获取所述电源电路的电路参数，其中，所述电路参数包括下列中的至少一项：所述输出电容的初始电压U0，所述等效串联电阻的电阻值ESR，所述侦测电阻的电阻值R1；确定单元，所述确定单元用于根据所述电路参数，确定所述侦测电阻两端的电压差变化趋势，其中，所述侦测电阻两端的电压差越大，所述电源抗干扰能力越强。

结合第二方面，在第二方面的第一种可能的实现方式中，所述获取单元用于：在所述输出电容放电过程中，获取所述电源电路的电路参数；所述确定单元用于：根据下列公式，确定所述输出电容放电过程中，所述侦测电阻第一端电压的电压值Vsense-随时间变化的曲线，

其中，为所述输出电容的初始电压，C为所述输出电容的电容大小；

根据所述Vsense-随时间变化的曲线，确定所述侦测电阻在t时刻的两端的电压差变化趋势，其中，在t时刻，所述ESR值越大，所述侦测电阻两端的电压差越小。

结合第二方面，在第二方面的第二种可能的实现方式中，所述获取单元用于：在所述输出电容充电过程中，获取所述电源电路的电路参数；所述确定单元用于：根据下列公式，计算所述输出电容充电过程中，所述侦测电阻低电压端的电压值Vsense-，

其中，为所述输出电容的充电电压，C为所述输出电容的电容大小；根据所述Vsense-随时间变化的曲线，确定所述侦测电阻在t时刻的两端的电压差变化趋势，其中，在t时刻，所述ESR值越大，所述侦测电阻两端的电压差越小。