[发明专利]显示面板的测试电路及显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示面板的测试电路及显示装置。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor liquid crystal display,TFT-LCD)由一彩色滤光片基板(Color Filter，CF)、一薄膜晶体管阵列基板(Thin Film Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)以及一配置于两基板间的液晶层(Liquid Crystal Layer)所构成。

TFT-LCD的制备包括阵列基板工序、彩膜基板工序以及阵列基板与彩膜基板的对盒(Cell)工序，一般在进行Cell工序时要进行面板功能测试(Cell Test)。通过Cell Test检测面板在Array、CF、Cell这三个工序中出现的不良情况，把不良的产品去除。

Cell Test工序一般采用短路棒(shorting bar)的形式进行点灯测试，然而测试之后需要对短路棒进行激光切割，增加了TFT-LCD制备的成本。

发明内容

本发明的目的在于提供一种显示面板的测试电路及显示装置，可以降低显示装置的制备成本。

本发明实施例提供一种显示面板的测试电路，包括至少一条短路棒、多条信号线以及连接所述至少一条短路棒、所述多条信号线的开关模块；

所述开关模块，在测试所述显示面板时，将所述多条信号线连接至其对应的短路棒；在结束测试所述显示面板时，断开所述多条信号线与所述至少一条短路棒的连接。

在一些实施例中，所述开关模块包括一控制信号线和多个开关管；

任一开关管的控制端与所述控制信号线连接，输出端与其对应的短路棒连接，输入端与所述短路棒对应的信号线连接；

当所述控制信号线传输第一控制信号时，全部开关管关闭，所述多条信号线与所述至少一条短路棒的连接断开；

当所述控制信号线传输第二控制信号时，全部开关管开启，所述多条信号线连接至其对应的短路棒。

在一些实施例中，所述开关管包括薄膜晶体管。

在一些实施例中，所述开关管包括三极管。

在一些实施例中，所述多条信号线包括多条R像素信号线、多条G像素信号线和多条B像素信号线，所述多个开关管包括第一开关管、第二开关管和第三开关管，所述至少一条短路棒包括第一短路棒、第二短路棒和第三短路棒；

所述第一开关管的输入端连接所述多条R像素信号线，输出端连接所述第一短路棒；

所述第二开关管的输入端连接所述多条G像素信号线，输出端连接所述第二短路棒；

所述第三开关管的输入端连接所述多条B像素信号线，输出端连接所述第三短路棒。

本发明实施例中还提供一种显示装置，包括显示面板和显示面板的测试电路；

所述显示面板的测试电路包括至少一条短路棒、多条信号线以及连接所述至少一条短路棒、所述多条信号线的开关模块；

所述开关模块，在测试所述显示面板时，将所述多条信号线连接至其对应的短路棒；在结束测试所述显示面板时，断开所述多条信号线与所述至少一条短路棒的连接。

在一些实施例中，所述开关模块包括一控制信号线和多个开关管；

任一开关管的控制端与所述控制信号线连接，输出端与其对应的短路棒连接，输入端与所述短路棒对应的信号线连接；

当所述控制信号线传输第一控制信号时，全部开关管关闭，所述多条信号线与所述至少一条短路棒的连接断开；

当所述控制信号线传输第二控制信号时，全部开关管开启，所述多条信号线连接至其对应的短路棒。

在一些实施例中，所述开关管包括薄膜晶体管。

在一些实施例中，所述开关管包括三极管。

在一些实施例中，所述多条信号线包括多条R像素信号线、多条G像素信号线和多条B像素信号线，所述多个开关管包括第一开关管、第二开关管和第三开关管，所述至少一条短路棒包括第一短路棒、第二短路棒和第三短路棒；

所述第一开关管的输入端连接所述多条R像素信号线，输出端连接所述第一短路棒；

所述第二开关管的输入端连接所述多条G像素信号线，输出端连接所述第二短路棒；

所述第三开关管的输入端连接所述多条B像素信号线，输出端连接所述第三短路棒。