[发明专利]一种PS-b-P2VP模板的硅表面纳米级高分子刷图案的制备方法有效
申请号: | 201710580216.3 | 申请日: | 2017-07-17 |
公开(公告)号: | CN107602746B | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 路小彬;徐平 | 申请(专利权)人: | 黔南民族师范学院 |
主分类号: | C08F120/06 | 分类号: | C08F120/06 |
代理公司: | 贵州派腾知识产权代理有限公司 52114 | 代理人: | 谷庆红 |
地址: | 558000 贵州省黔南布*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 ps p2vp 模板 表面 纳米 高分子 图案 制备 方法 | ||
1.一种PS-b-P2VP模板的硅表面纳米级高分子刷图案的制备方法,将两亲性嵌段共聚物PS-b-P2VP在甲苯溶液里自组装成胶束,旋涂在硅片上形成PS作基质背景、P2VP形成突出于PS基质背景的30-50nm的圆点;然后在8-12:1THF/H2O溶剂蒸汽密闭环境中室温下放置30-40h,形成PS-b-P2VP直线条或指纹状图案,然后在Na2PtCl4/HCl溶液中浸泡3-24h,带正电荷的[P2VP]+和带负电荷的[PtCl4]2-静电吸引结合在一起,用O2等离子体处理除去PS-b-P2VP,同时使Na2PtCl4生成Pt线条;用1:0.5-2:3-5HF/H2O2/EtOH的阳极辅助溶液腐蚀得到了间距在50-100nm之间,带宽30-50nm的线状或指纹状条纹,腐蚀的机理是Pt所处位点的原电池反应机理,最后在线状条纹的纳米坑处组装PMAA,得到线条状或指纹状的PMAA图案;
其特征在于:制备方法具体包括以下步骤:
(1)硅片的清洗:将切好的单晶硅用氮气吹干净,采用半导体工业标准的RCA清洗技术对硅片进行处理:即先用2-4:1H2SO4/H2O2溶液中在100-140℃下加热至无气泡产生,用超纯水超声5-25min;再用1:1:5NH3.H2O/H2O2/H2O溶液于60-90℃煮10-30min,超纯水超声5-25min;接着在1:1:6HCl/H2O2/H2O溶液于60-90℃煮10-30min,超纯水超声至溶液成中性,氮气吹干待用,其余硅片保存于超纯水中;
(2)聚合物模版的制备:将PS-b-P2VP溶解在甲苯中,室温搅拌8-16h,制成浓度为0.5%(w/w)的溶液;
(3)PS-b-P2VP的沉积、溶剂蒸汽加热、金属沉积、腐蚀:取8-12μl0.5%(w/w)PS-b-P2VP溶液滴在1.0cm×1.0cm硅片上,旋涂,旋涂转速3000-4000rpm/min,随后硅片在1.9L干燥器中,内有11ml8-12:1THF/H2O溶蒸汽中室温放置30-40h,进行溶剂蒸汽加热,得到线状或指纹状图案,将硅片浸泡于浓度为60-80mmol.L-1Na2PtCl4/0.9%HCl溶液,3-24h;铂盐沉积后,硅片用水冲洗,氮气吹干,然后用氧等离子体除去聚合物并使铂盐还原成铂线;硅片取出后浸泡于体积比为1:0.5-2:3-5的HF/H2O2/EtOH溶液中,浸泡时间为1-5min,温度为30-50℃,然后水冲洗,氮气吹干,硅片再用甲苯和三氯甲烷分别超声清洗5-25min,氮气吹干;
(4)引发剂2-溴-2-甲基丙酸-10’-十一烯酯的合成:将8.3ml的十一烯醇和3.5ml的吡啶加入40ml的THF,冰浴条件下,缓慢滴加2-溴-2-甲基丙酰溴,室温条件下,通氮气反应15h,待反应结束后,加入25ml正己烷,用50ml的2mol.L-1的HCl洗两次,去除未反应的酰溴,水洗两次,用无水硫酸钠干燥,有机相过硅胶柱纯化,旋蒸得到无色液体:2-溴-2-甲基丙酸-10’-十一烯酯;
(5)表面氢化硅烷化和表面引发剂的引入:将步骤(3)新鲜腐蚀的硅片放进80ml小瓶,内有10ml2-溴-2-甲基丙酸-10’-十一烯酯,小瓶用氮气排空15min,反应在CEM微波反应器中进行,反应温度为125℃,反应20min,反应后,硅片用二氯甲烷,无水乙醇分别超声3min,氮气吹干;
(6)PMAA聚合物刷的制备:通过甲基丙烯酸钠的ATRP反应,PMAA聚合物刷共价键合在载有引发剂的硅片上,甲基丙烯酸钠的ATRP反应在氮气保护的小瓶中进行,加入540mg甲基丙烯酸钠,40mg联吡啶,6ml1:1H2O/CH3OH溶液;先氮气保护15min,然后加入18mgCuBr,40℃保持2-4h;然后硅片用THF、H2O、EtOH依次超声清洗,氮气吹干得到PMAA聚合物刷。
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