[发明专利]一种耐用性测试方法

说明书

本发明涉及存储技术领域，尤其涉及一种耐用性测试方法，应用于一闪存；所述闪存包括一芯片，所述芯片包括多个块，每个所述块包括多个扇区；其中，所述可靠性测试方法包括：执行第一擦写操作第一预定数量次；执行第二擦写操作第二预定数量次；以及根据所有擦除操作的测试结果对所述闪存进行耐用性评估；上述技术方案能够兼顾对块及扇区的擦除操作的耐用性检测，从而保证闪存的可靠性验证的完整。

技术领域

本发明涉及存储技术领域，尤其涉及一种耐用性测试方法。

背景技术

闪存是一种长寿命的非易失性的存储器，数据删除不是以单个的字节为单位而是以固定的区块为单位。闪存的传输效率很高，在1～4MB的小容量时具有很高的成本效益，但是很低的写入和擦除速度大大影响到它的性能。

闪存的最大擦写次数是十万次，擦除编程的单位是编程页，多次的擦除编程循环的操作会导致存储单元的性能衰退，主要表现为擦除时间的增加，以及擦写次数增加导致的数据保持力的衰退，还有可能存在制程缺陷引起的失效情况。

由于擦除的单元分为芯片，块与扇区三种，用户实际使用同时存在对这三种模式进行擦除的操作。根据固态技术协会要求，耐用性测试通常在500小时左右完成，由于容量较大的产品无法在500小时完成整个芯片上扇区的100k次测试，目前通常做法为整个芯片的扇区擦除10k次，再部分区域进行块擦除90k次，以完成部分区域的100k次测试。

但用户使用最多的是块及扇区模式，目前的评估方式不能完全评估用户使用情况。如图1所示，该芯片块擦除操作测试时间正常但扇区擦除操作超出规格。因此需要一种新的方法来满足用户的不同使用模式，以确保可靠性验证的完整性。

发明内容

针对上述问题，本发明提出了一种耐用性测试方法，应用于一闪存；所述闪存包括一芯片，所述芯片包括多个块，每个所述块包括多个扇区；其中，所述可靠性测试方法包括：

执行第一擦写操作第一预定数量次；

执行第二擦写操作第二预定数量次；以及

根据所有擦除操作的测试结果对所述闪存进行耐用性评估；

所述第一擦写操作包括：

步骤a1，取所述芯片中任意一块为当前块，对所述当前块中的每个所述扇区进行扇区擦除操作；

步骤a2，对所述芯片中除所述当前块以外的其他块按一预定顺序进行块擦除操作；

步骤a3，写所述芯片；

所述第二擦写操作包括：

步骤b1，对所述当前块执行扇区擦除操作；

步骤b2，于所述芯片中除所述当前块以外的其他块中以预定策略选取的第三预定数量的块，对被选取的所述块按所述预定顺序进行块擦除操作；

步骤b3，写所述步骤b2中被擦除的块。

上述的耐用性测试方法，其中，所述第一预定数量次为10k次。

上述的耐用性测试方法，其中，所述第二预定数量次为90k次。

上述的耐用性测试方法，其中，所述预定顺序为一编号顺序，依照所述编号顺序依次对所述芯片中除所述当前块以外的其他块进行所述块擦除操作。

上述的耐用性测试方法，其中，所述步骤a1中，所述预定顺序为一随机顺序，依照所述随机顺序依次对所述芯片中除所述当前块以外的其他块进行所述块擦除操作。

上述的耐用性测试方法，其中，每个所述块中的所述扇区的数量为16个。

上述的耐用性测试方法，其中，每个所述块的存储容量为0.5MB。