[发明专利]GOA测试电路及GOA测试方法

权利要求书

1.一种阵列基板行驱动GOA测试电路，用于对呈阵列排布的多个显示面板进行测试，其特征在于，所述GOA测试电路包括：

第一走线，设置于所述多个显示面板所在区域之外且围设于所述多个显示面板所在区域的四周，并与每一所述显示面板的Array测试焊盘和高垂直排列HVA Curing焊盘连接；

至少一条与第一方向平行的第二走线，所述多个显示面板所在区域被所述至少一条第二走线划分为沿第二方向排布的至少两个区域，其中所述第二方向与所述第一方向相垂直，且每一所述第二走线位于相邻的两个所述区域之间，每一所述第二走线与位于其两侧的各个所述显示面板的Array测试焊盘和HVA Curing焊盘连接；

开关单元，设置于所述第一走线和每一所述第二走线之间，且每一所述第二走线的两端与所述第一走线之间均设置有一个所述开关单元，用于控制所述第一走线和每一所述第二走线的导通和断开。

2.根据权利要求1所述的GOA测试电路，其特征在于，所述开关单元包括薄膜晶体管，所述GOA测试电路还包括位于相邻两个所述区域之间的第三走线，所述薄膜晶体管的栅极、源极和漏极分别连接于所述第三走线、所述第一走线和所述第二走线。

3.根据权利要求2所述的GOA测试电路，其特征在于，所述薄膜晶体管设置于所述多个显示面板所在区域之外，或者设置于相邻的两个所述区域之间。

4.根据权利要求1所述的GOA测试电路，其特征在于，所述第一方向和所述第二方向中的一者为行方向，另一者为列方向。

5.一种阵列基板行驱动GOA测试方法，用于对呈阵列排布的多个显示面板进行测试，其特征在于，所述GOA测试方法包括：

在所述多个显示面板所在区域之外设置第一走线，所述第一走线围设于所述多个显示面板所在区域的四周，且与每一显示面板的Array测试焊盘和高垂直排列HVA Curing焊盘连接；

形成至少一条与第一方向平行的第二走线，所述多个显示面板所在区域被所述至少一条第二走线划分为沿第二方向排布的至少两个区域，其中所述第二方向与所述第一方向相垂直，且每一所述第二走线位于相邻的两个所述区域之间，每一所述第二走线与位于其两侧的各个所述显示面板的Array测试焊盘和HVA Curing焊盘连接；

在所述第一走线和每一所述第二走线的之间形成开关单元，其中每一所述第二走线的两端与所述第一走线之间均设置有一个所述开关单元；

所述开关单元断开所述第一走线和所述第二走线的连接，并对所述第一走线或所述第二走线施加Array测试信号，以对所述多个显示面板进行Array测试；

所述开关单元导通所述第一走线和每一所述第二走线的连接，并对所述第一走线和所述第二走线施加HVA Curing制程信号，以对所述多个显示面板进行HVA Curing制程。

6.根据权利要求5所述的GOA测试方法，其特征在于，所述开关单元包括薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的源极和漏极分别连接于所述第一走线和所述第二走线，所述GOA测试方法还包括：

在相邻两个所述区域之间形成第三走线，且所述第三走线连接于所述薄膜晶体管的栅极；

所述开关单元断开所述第一走线和所述第二走线的连接，包括：

对所述第三走线施加低电平信号；

所述开关单元导通所述第一走线和所述第二走线的连接，包括：

对所述第三走线施加高电平信号。

7.根据权利要求6所述的GOA测试方法，其特征在于，所述薄膜晶体管设置于所述多个显示面板所在区域之外，或者设置于相邻的两个所述区域之间。

8.根据权利要求5所述的GOA测试方法，其特征在于，所述第一方向和所述第二方向中的一者为行方向，另一者为列方向。